接触界面振动声调制行为及缺陷检测方法研究
摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
第1章 绪论 | 第15-29页 |
1.1 课题研究的目的及意义 | 第15-16页 |
1.2 常用的缺陷检测方法简介 | 第16-17页 |
1.3 振动声调制技术研究进展 | 第17-27页 |
1.3.1 检测应用范围 | 第18-21页 |
1.3.2 实验参数选择 | 第21-23页 |
1.3.3 定位定量评价 | 第23-27页 |
1.4 目前存在的问题和不足 | 第27-28页 |
1.5 本文主要研究内容 | 第28-29页 |
第2章 实验平台设计及实验材料制作 | 第29-42页 |
2.1 振动声调制检测硬件系统搭建 | 第29-31页 |
2.1.1 低频激励硬件 | 第29-30页 |
2.1.2 高频激励硬件 | 第30-31页 |
2.2 信号激励、接收与处理 | 第31-32页 |
2.3 振动声调制检测软件开发 | 第32-38页 |
2.3.1 虚拟仪器技术简介 | 第32-33页 |
2.3.2 虚拟仪器系统开发过程 | 第33-35页 |
2.3.3 检测程序设计与调试 | 第35-38页 |
2.4 试样制备 | 第38-41页 |
2.5 实验平台测试 | 第41页 |
2.6 小结 | 第41-42页 |
第3章 接触缺陷界面上振动/超声相互作用机理 | 第42-67页 |
3.1 振动/超声调制理论模型 | 第42-45页 |
3.2 振动/超声在缺陷界面上的相互作用 | 第45-62页 |
3.2.1 低频振动模态分析 | 第46-52页 |
3.2.2 高频声场分析 | 第52-55页 |
3.2.3 振动/超声的相互作用 | 第55-62页 |
3.3 调制边频分析 | 第62-65页 |
3.4 小结 | 第65-67页 |
第4章 振动声调制激励参数的选择与优化 | 第67-91页 |
4.1 低频激励参数的选取 | 第67-73页 |
4.1.1 低频激励幅度 | 第67-71页 |
4.1.2 低频激励频率 | 第71-73页 |
4.2 高频激励参数的选取 | 第73-75页 |
4.2.1 高频激励幅度 | 第73-74页 |
4.2.2 高频激励频率 | 第74-75页 |
4.3 扫频激励工艺及调制强度表征方法 | 第75-86页 |
4.3.1 信号采集与滤波 | 第75-77页 |
4.3.2 解调分析 | 第77-84页 |
4.3.3 扫频激励下调制强度表征 | 第84-86页 |
4.4 振动/超声调制机理验证 | 第86-90页 |
4.5 小结 | 第90-91页 |
第5章 振动声调制技术定量评价方法 | 第91-104页 |
5.1 非线性调制模型 | 第91-95页 |
5.1.1 调制信息的提取 | 第91-92页 |
5.1.2 调制模型的修正 | 第92-95页 |
5.2 振动声调制定量方法 | 第95-99页 |
5.2.1 调制指数直接表征法 | 第95-96页 |
5.2.2 基于修正模型的损伤指数法 | 第96-99页 |
5.3 缺陷尺寸的实验验证 | 第99-102页 |
5.3.1 超声C扫描检测结果 | 第99-101页 |
5.3.2 定量评价方法比较 | 第101-102页 |
5.4 小结 | 第102-104页 |
第6章 振动声调制技术在接触型缺陷检测上的应用 | 第104-120页 |
6.1 振动声调制检测的适应性 | 第104-107页 |
6.2 复杂结构振动声调制检测工艺 | 第107-114页 |
6.2.1 激励参数的确定 | 第108-111页 |
6.2.2 扫频激励下振动声调制检测结果 | 第111-114页 |
6.3 复杂结构内部缺陷的初步定量评价 | 第114-118页 |
6.4 小结 | 第118-120页 |
结论 | 第120-123页 |
参考文献 | 第123-133页 |
附录 | 第133-136页 |
攻读博士学位期间发表的论文及其它成果 | 第136-138页 |
致谢 | 第138-139页 |
个人简历 | 第139页 |