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基于ARM的非接触式轨道检测系统设计

摘要第6-7页
Abstract第7页
第1章 绪论第11-19页
    1.1 课题背景和意义第11-12页
        1.1.1 课题研究的背景第11页
        1.1.2 课题研究的意义第11-12页
    1.2 国内外发展现状第12-17页
        1.2.1 轨道检测系统概述第12页
        1.2.2 轨道检测系统国外研究现状第12-14页
        1.2.3 轨道检测系统国内研究现状第14-15页
        1.2.4 嵌入式系统发展现状第15-17页
    1.3 课题研究的主要内容、目标和方法第17-18页
        1.3.1 课题研究的主要内容第17页
        1.3.2 课题研究的目标第17页
        1.3.3 课题研究的方法第17-18页
    1.4 本章小结第18-19页
第2章 非接触式轨道检测系统的总体方案设计第19-27页
    2.1 轨道检测系统的需求与功能分析第19页
    2.2 轨道检测系统的技术参数第19-20页
    2.3 轨道检测系统的检测原理第20-22页
        2.3.1 轨距的检测原理第20页
        2.3.2 高低的检测原理第20页
        2.3.3 轨向的检测原理第20-21页
        2.3.4 水平(超高)的检测原理第21页
        2.3.5 三角坑的检测原理第21-22页
        2.3.6 曲率的检测原理第22页
        2.3.7 速度和里程的检测原理第22页
    2.4 轨道检测系统的总体架构第22-24页
    2.5 硬件设计方案第24-25页
    2.6 软件设计方案第25-26页
        2.6.1 下位机软件设计方案第25页
        2.6.2 上位机软件设计方案第25-26页
    2.7 本章小结第26-27页
第3章 系统的硬件设计第27-45页
    3.1 电源电路第27-28页
    3.2 STM32最小系统电路的设计第28-30页
    3.3 速度编码器相关电路的设计第30-33页
        3.3.1 光耦隔离电路第30-31页
        3.3.2 鉴相电路第31-32页
        3.3.3 分频电路第32-33页
    3.4 通信电路的设计第33-37页
        3.4.1 以太网通信电路第33-35页
        3.4.2 串口通信电路第35-36页
        3.4.3 CAN通信电路第36-37页
    3.5 信号调理电路的设计第37-39页
    3.6 其他电路的设计第39-43页
        3.6.1 E2PROM电路第39页
        3.6.2 SRAM电路第39-40页
        3.6.3 AD7606电路第40-41页
        3.6.4 地址译码器电路第41-42页
        3.6.5 同步触发电路第42-43页
    3.7 硬件电路的抗干扰设计第43-44页
        3.7.1 PCB层的设计第43页
        3.7.2 PCB的布局和走线第43-44页
        3.7.3 PCB的接地处理第44页
    3.8 本章小结第44-45页
第4章 系统的软件设计第45-75页
    4.1 下位机软件的设计第45-62页
        4.1.1 下位机软件开发平台第45页
        4.1.2 RT-Thread操作系统简介第45-46页
        4.1.3 RT-Thread在STM32F407上的移植第46-47页
        4.1.4 RT-Thread设备驱动程序的开发第47-53页
        4.1.5 RT-Thread应用程序设计第53-62页
        4.1.6 基于TFTP的STM32软件升级第62页
    4.2 上位机软件的设计第62-71页
        4.2.1 上位机软件开发平台第62页
        4.2.2 上位机软件功能分析第62-63页
        4.2.3 上位机软件流程分析第63-66页
        4.2.4 上位机软件关键算法研究第66-70页
        4.2.5 上位机软件界面设计第70-71页
    4.3 通信协议第71-74页
        4.3.1 下位机与LED显示板之间的通信协议第71页
        4.3.2 下位机与上位机之间的通信协议第71-74页
    4.4 本章小结第74-75页
第5章 轨道检测系统的测试和结果分析第75-83页
    5.1 测试目的第75页
    5.2 测试方法第75页
    5.3 测试过程第75-80页
        5.3.1 实验室测试第75-77页
        5.3.2 现场测试第77-80页
    5.4 测试结果分析第80-82页
        5.4.1 试车线测试结果分析第80-81页
        5.4.2 正线测试结果分析第81-82页
    5.5 本章小结第82-83页
总结与展望第83-84页
致谢第84-85页
参考文献第85-89页
攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果第89页

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