基于计算机视觉的镁薄板表面缺陷检测系统的研究
中文摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
1.绪论 | 第10-16页 |
1.1 选题的背景及意义 | 第10-11页 |
1.1.1 选题的背景 | 第10页 |
1.1.2 选题的意义 | 第10-11页 |
1.2 计算机视觉的介绍 | 第11-12页 |
1.2.1 理论渊源及演进过程 | 第11页 |
1.2.2 国内外有关研究的综述 | 第11-12页 |
1.3 镁合金薄板轧制工艺及技术 | 第12-15页 |
1.3.1 轧制工艺现今技术 | 第12-13页 |
1.3.2 轧制工艺发展状况 | 第13页 |
1.3.3 轧制工艺控制技术 | 第13-14页 |
1.3.4 轧制工艺质量监控技术 | 第14-15页 |
1.4 论文工作 | 第15-16页 |
1.4.1 论文的主要研究工作 | 第15页 |
1.4.2 论文章节安排 | 第15-16页 |
2.计算机视觉下镁薄板轧制工艺 | 第16-21页 |
2.1 镁薄板工艺流程及常见缺陷类型 | 第16-20页 |
2.1.1 工艺流程 | 第16-17页 |
2.1.2 常见缺陷类型 | 第17-20页 |
2.2 系统实验环境 | 第20-21页 |
3.镁薄板表面缺陷检测系统需求分析 | 第21-29页 |
3.1 系统功能需求分析 | 第21-25页 |
3.1.1 系统需求分析结构图 | 第21-23页 |
3.1.2 系统光学成像模块分析 | 第23-24页 |
3.1.3 系统图像采集模块分析 | 第24页 |
3.1.4 系统终端处理模块分析 | 第24页 |
3.1.5 系统图像预处理模块分析 | 第24-25页 |
3.1.6 系统特征提取与选择模块分析 | 第25页 |
3.1.7 系统缺陷分类模块分析 | 第25页 |
3.2 系统用例图 | 第25-26页 |
3.3 系统性能需求分析 | 第26-27页 |
3.3.1 系统可靠性分析 | 第26-27页 |
3.3.2 系统时间特性分析 | 第27页 |
3.3.3 系统稳定性分析 | 第27页 |
3.4 系统运行流程分析 | 第27-29页 |
4.镁薄板表面缺陷检测系统总体设计 | 第29-36页 |
4.1 系统结构设计 | 第29-30页 |
4.2 系统环境的设计 | 第30-33页 |
4.2.1 系统硬件环境 | 第30-32页 |
4.2.2 系统软件环境 | 第32-33页 |
4.3 图像采集系统的设计 | 第33页 |
4.4 终端计算机处理部分的设计 | 第33页 |
4.5 系统图像预处理部分的设计 | 第33页 |
4.6 系统特征提取与选择部分的设计 | 第33-34页 |
4.7 系统缺陷分类部分的设计 | 第34页 |
4.8 系统时序图 | 第34-36页 |
5.镁薄板表面缺陷检测系统的实现 | 第36-62页 |
5.1 图像预处理 | 第36-40页 |
5.1.1 图像灰度化 | 第36-37页 |
5.1.2 直方图变换进行图像增强 | 第37-38页 |
5.1.3 图像中值滤波 | 第38-39页 |
5.1.4 图像二值化 | 第39页 |
5.1.5 图像形态学操作 | 第39-40页 |
5.2 检索轮廓进行边缘连接 | 第40-41页 |
5.2.1 内存 | 第40页 |
5.2.2 序列 | 第40-41页 |
5.2.3 轮廓 | 第41页 |
5.3 缺陷特征的提取与选择 | 第41-46页 |
5.3.1 特征值的选取 | 第42页 |
5.3.2 设置并提取图像的感兴趣区域 | 第42-43页 |
5.3.3 几何形状特征 | 第43-45页 |
5.3.4 纹理特征 | 第45-46页 |
5.4 缺陷识别方法的研究 | 第46-51页 |
5.4.1 缺陷识别方法的对比与选择 | 第46-48页 |
5.4.2 贝叶斯分类方法的设计 | 第48-49页 |
5.4.3 贝叶斯分类方法的训练 | 第49-50页 |
5.4.4 贝叶斯分类方法的实现 | 第50-51页 |
5.5 系统主界面的实现 | 第51-60页 |
5.5.1 系统的构架实现 | 第53-56页 |
5.5.2 框架Qt的信号和槽机制 | 第56-57页 |
5.5.3 开启监控视频的实现 | 第57-58页 |
5.5.4 暂停监控视频的实现 | 第58-59页 |
5.5.5 保存监控视频截图的实现 | 第59-60页 |
5.5.6 更新监控日志的实现 | 第60页 |
5.6 系统结果的测试 | 第60-62页 |
6.总结与展望 | 第62-63页 |
6.1 总结 | 第62页 |
6.2 对未来工作展望 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
作者简介 | 第66-67页 |