| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 背景及研究意义 | 第10-12页 |
| 1.2 金属微粒带电与绝缘子表面电荷积聚的研究进展 | 第12-13页 |
| 1.2.1 金属微粒危害研究的现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 绝缘子表面电荷积聚研究的现状 | 第13页 |
| 1.3 金属微粒与电荷积聚之间的相互作用机制 | 第13-14页 |
| 1.4 主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第2章 直流电压下绝缘子模型表面电荷积聚效应 | 第16-29页 |
| 2.1 电荷积聚的微观机制 | 第16-18页 |
| 2.2 建立电荷积聚仿真模型 | 第18-20页 |
| 2.2.1 模型基本参数 | 第18页 |
| 2.2.2 稳态模型 | 第18-19页 |
| 2.2.3 微粒模型 | 第19-20页 |
| 2.3 绝缘子表面电荷积聚的稳态及电压特性 | 第20-23页 |
| 2.3.1 电荷积聚的稳态 | 第21-22页 |
| 2.3.2 电荷积聚的电压特性 | 第22-23页 |
| 2.4 微粒对电荷积聚的影响 | 第23-28页 |
| 2.4.1 微粒尺寸 | 第24-26页 |
| 2.4.2 微粒附着位置 | 第26-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 绝缘子表面电荷测量系统及对比分析 | 第29-43页 |
| 3.1 电荷测量实验平台 | 第29-34页 |
| 3.1.1 实验平台机构 | 第29-33页 |
| 3.1.2 电容探头法 | 第33-34页 |
| 3.2 绝缘子表面电荷积聚的时间效应及电压特性 | 第34-36页 |
| 3.2.1 电荷积聚的时间效应 | 第35页 |
| 3.2.2 电荷积聚的电压特性 | 第35-36页 |
| 3.3 微粒对电荷积聚的影响 | 第36-41页 |
| 3.3.1 微粒尺寸 | 第37-40页 |
| 3.3.2 微粒附着位置 | 第40-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-43页 |
| 第4章 直流电压下真实绝缘子表面电荷积聚分析 | 第43-58页 |
| 4.1 建立表面电荷积聚模型 | 第43-47页 |
| 4.1.1 绝缘子表面电荷积聚模型参数选取 | 第43-45页 |
| 4.1.2 建立绝缘子表面电荷积聚模型 | 第45-47页 |
| 4.2 无金属微粒污染的绝缘子表面电荷积聚分析 | 第47-50页 |
| 4.2.1 柱式绝缘子 | 第47-48页 |
| 4.2.2 盆式绝缘子 | 第48-50页 |
| 4.3 附着金属微粒对表面电荷积聚的影响 | 第50-54页 |
| 4.3.1 微粒位置对表面电荷积聚的影响 | 第50-52页 |
| 4.3.2 微粒个数对表面电荷积聚的影响 | 第52-53页 |
| 4.3.3 微粒尺寸对表面电荷积聚的影响 | 第53-54页 |
| 4.3.4 离子生成率对表面电荷积聚的影响 | 第54页 |
| 4.4 悬浮金属微粒对表面电荷积聚的影响 | 第54-57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 结论与展望 | 第58-60页 |
| 5.1 结论 | 第58-59页 |
| 5.2 展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第64-65页 |
| 攻读硕士学位期间参加的科研工作 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |