| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 选题背景 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 本论文所做的工作与安排 | 第11-13页 |
| 第2章 相关理论基础 | 第13-23页 |
| 2.1 SIFT特征点 | 第13-19页 |
| 2.1.1 检测尺度空间极值点 | 第13-15页 |
| 2.1.2 精确定位关键点位置 | 第15-19页 |
| 2.2 三角划分概述 | 第19-23页 |
| 第3章 基于SIFT和DELAUNAY的印章校正算法 | 第23-29页 |
| 3.1 SIFT特征点提取 | 第23页 |
| 3.2 DELAUNAY三角划分 | 第23-24页 |
| 3.3 相似三角形配对的求取 | 第24-25页 |
| 3.4 印鉴姿势校正 | 第25-29页 |
| 3.4.1 图像的平移 | 第25-26页 |
| 3.4.2 图像的旋转 | 第26-27页 |
| 3.4.3 本文校正算法 | 第27-29页 |
| 第4章 印鉴校正实验结果与分析 | 第29-46页 |
| 4.1 印鉴SIFT特征点提取 | 第29-34页 |
| 4.1.1 圆形印鉴SIFT特征点 | 第29-31页 |
| 4.1.2 方形印鉴SIFT特征点 | 第31-33页 |
| 4.1.3 椭圆印鉴SIFT特征点 | 第33-34页 |
| 4.2 印鉴DELAUNAY三角网建立与匹配 | 第34-43页 |
| 4.2.1 圆形印鉴Delaunay三角网建立与匹配 | 第34-37页 |
| 4.2.2 方形印鉴Delaunay三角网建立与匹配 | 第37-40页 |
| 4.2.3 椭圆印鉴Delaunay三角网建立与匹配 | 第40-43页 |
| 4.3 印鉴校正 | 第43-46页 |
| 4.3.1 圆形印鉴矫正 | 第43-44页 |
| 4.3.2 方形印鉴矫正 | 第44页 |
| 4.3.3 椭圆印鉴矫正 | 第44-46页 |
| 第5章 总结与展望 | 第46-48页 |
| 5.1 总结 | 第46页 |
| 5.2 展望 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-51页 |
| 致谢 | 第51页 |
