| 摘要 | 第3-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第15-38页 |
| 1.1 温室气体(GHGs)概述 | 第15-18页 |
| 1.1.1 定义和种类 | 第15-16页 |
| 1.1.2 来源及危害 | 第16-17页 |
| 1.1.3 控制对策 | 第17-18页 |
| 1.2 GHGs的控制方法 | 第18-22页 |
| 1.2.1 吸收法 | 第18-19页 |
| 1.2.2 吸附法 | 第19-20页 |
| 1.2.3 膜分离法 | 第20-21页 |
| 1.2.4 热分解法 | 第21-22页 |
| 1.3 低温等离子体化学法 | 第22-27页 |
| 1.3.1 低温等离子体概述 | 第22-24页 |
| 1.3.2 介质阻挡放电技术 | 第24-27页 |
| 1.4 催化燃烧技术 | 第27-30页 |
| 1.4.1 贵金属催化剂 | 第27-29页 |
| 1.4.2 金属氧化物催化剂 | 第29-30页 |
| 1.5 甲烷氧化机理的研究现状 | 第30-35页 |
| 1.6 论文研究的目的与内容 | 第35-38页 |
| 1.6.1 本研究的目的 | 第36页 |
| 1.6.2 本研究要解决的关键问题 | 第36页 |
| 1.6.3 本研究的主要内容 | 第36-38页 |
| 第二章 实验装置与方法 | 第38-44页 |
| 2.1 实验试剂与仪器 | 第38-40页 |
| 2.2 催化剂的制备 | 第40页 |
| 2.2.1 浸渍法制备Au/Al_2O_3催化剂 | 第40页 |
| 2.3 催化剂的表征 | 第40-42页 |
| 2.3.1 比表面积和孔结构测定 | 第41页 |
| 2.3.2 X射线光电子能谱(XPS)测定 | 第41页 |
| 2.3.3 X射线衍射(XRD)测定 | 第41页 |
| 2.3.4 电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-OES)测定 | 第41-42页 |
| 2.3.5 透射电镜(TEM)测定 | 第42页 |
| 2.3.6 红外光谱(FT-IR)测定 | 第42页 |
| 2.4 数据处理 | 第42-44页 |
| 2.4.1 放电功率及单位能量注入计算 | 第42-43页 |
| 2.4.2 甲烷转化率及CO_2选择性计算 | 第43-44页 |
| 第三章 介质阻挡放电协同催化深度氧化甲烷机理研究 | 第44-62页 |
| 3.1 实验部分 | 第44-46页 |
| 3.1.1 反应器 | 第44页 |
| 3.1.2 实验装置系统 | 第44-46页 |
| 3.2 结果与讨论 | 第46-58页 |
| 3.2.1 放电特性曲线 | 第46-47页 |
| 3.2.2 催化剂的表征结果 | 第47-50页 |
| 3.2.3 催化剂对甲烷转化及产物的影响 | 第50-54页 |
| 3.2.3.1 有无催化剂对甲烷转化的影响 | 第50-53页 |
| 3.2.3.2 金负载量对甲烷转化的影响 | 第53-54页 |
| 3.2.4 金对H_2O脱附的影响 | 第54-55页 |
| 3.2.5 甲烷氧化中间产物分析 | 第55-58页 |
| 3.3 机理分析 | 第58-60页 |
| 3.4 本章小结 | 第60-62页 |
| 第四章 O_2/H_2O脉冲介质阻挡放电生成OH的特征 | 第62-78页 |
| 4.1 引言 | 第62-63页 |
| 4.2 实验部分 | 第63-64页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第64-77页 |
| 4.3.1 典型的放电特性 | 第64-66页 |
| 4.3.2 OH的发光现象 | 第66-70页 |
| 4.3.2.1 OH的发光强度 | 第66-67页 |
| 4.3.2.2 OH的发光分析 | 第67-69页 |
| 4.3.2.3 OH发光的影响因素 | 第69-70页 |
| 4.3.3 数值分析 | 第70-77页 |
| 4.3.3.1 E/N计算 | 第70-74页 |
| 4.3.3.2 建立模型 | 第74-77页 |
| 4.4 本章小结 | 第77-78页 |
| 第五章 研究结论及展望 | 第78-81页 |
| 5.1 研究结论 | 第78-80页 |
| 5.2 展望 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-91页 |
| 硕士期间发表的论文及申请的发明专利 | 第91-92页 |
| 致谢 | 第92-93页 |