| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 缩写和符号清单 | 第11-14页 |
| 1 引言 | 第14-15页 |
| 2 文献综述 | 第15-50页 |
| ·铁磁薄膜中的电子自旋相关输运 | 第16-23页 |
| ·铁磁金属的电子自旋相关输运 | 第16-19页 |
| ·薄膜电阻率的Fuchs-Sondheime理论 | 第19-23页 |
| ·磁电阻效应 | 第23-37页 |
| ·正常磁电阻(OMR) | 第23页 |
| ·各向异性磁电阻(AMR) | 第23-25页 |
| ·巨磁电阻(GMR) | 第25-34页 |
| ·隧道磁电阻(TMR) | 第34-36页 |
| ·庞磁电阻(CMR) | 第36-37页 |
| ·Co/Pt多层膜的垂直磁各向异性及在自旋电子学中的应用 | 第37-50页 |
| ·磁性薄膜磁各向异性的来源 | 第37-39页 |
| ·Co/Pt多层膜垂直磁各向异性研究进展 | 第39-43页 |
| ·Co/Pt多层膜在自旋电子学中的应用 | 第43-50页 |
| 3 样品制备及分析测试方法 | 第50-60页 |
| ·样品的制备 | 第50-53页 |
| ·基片清洗 | 第50页 |
| ·磁控溅射镀膜 | 第50-52页 |
| ·样品的真空退火处理 | 第52-53页 |
| ·样品的分析测试方法 | 第53-60页 |
| ·薄膜厚度的测量 | 第53-54页 |
| ·薄膜磁学性质的测量 | 第54-57页 |
| ·薄膜电学性质的测量 | 第57-58页 |
| ·薄膜结构的分析 | 第58-60页 |
| 4 NiO和Co/Pt多层膜的交换耦合作用及对其矫顽力的影响 | 第60-66页 |
| ·引言 | 第60页 |
| ·实验方法 | 第60-61页 |
| ·结果与讨论 | 第61-65页 |
| ·小结 | 第65-66页 |
| 5 Co/Pt多层膜反常霍尔效应的研究 | 第66-76页 |
| ·引言 | 第66页 |
| ·实验方法 | 第66-67页 |
| ·结果与讨论 | 第67-75页 |
| ·Pt(t_(Pt2))/[Co(t_(Co))/Pt(t_(Pt1))]_N结构中各因素的影响 | 第67-73页 |
| ·不同缓冲层的影响 | 第73-75页 |
| ·小结 | 第75-76页 |
| 6 基于Co/Pt多层膜的垂直磁各向异性赝自旋阀的研究 | 第76-87页 |
| ·引言 | 第76页 |
| ·实验方法 | 第76-77页 |
| ·结果与讨论 | 第77-85页 |
| ·Cu隔离层赝自旋阀 | 第77-83页 |
| ·Au隔离层赝自旋阀 | 第83-85页 |
| ·小结 | 第85-87页 |
| 7 Au插层对Co/Pt多层膜磁性和输运性质的影响 | 第87-100页 |
| ·引言 | 第87-88页 |
| ·实验方法 | 第88页 |
| ·结果与讨论 | 第88-99页 |
| ·Au插层对Pt/Co(t_(Co))/Pt三明治结构性能的影响 | 第88-90页 |
| ·Au插层对Co/Pt多层膜性能的影响 | 第90-99页 |
| ·小结 | 第99-100页 |
| 8 结论 | 第100-102页 |
| 参考文献 | 第102-116页 |
| 作者简历及在学研究成果 | 第116-120页 |
| 学位论文数据集 | 第120页 |
