| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| ·课题背景及研究的目的和意义 | 第9-11页 |
| ·激光等离子体研究的发展概况 | 第11-17页 |
| ·等离子体诊断技术发展概况 | 第11-14页 |
| ·等离子体电子温度计算方法介绍 | 第14-15页 |
| ·应用黑体辐射测温 | 第15-17页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第17-19页 |
| 第2章 实验系统的构建和实验方法 | 第19-30页 |
| ·时间分辨光谱(TRS)技术 | 第19-20页 |
| ·实验系统介绍 | 第20-25页 |
| ·实验装置 | 第20-22页 |
| ·样品制备 | 第22页 |
| ·实验流程 | 第22-23页 |
| ·系统光谱响应函数 | 第23-25页 |
| ·光谱初步分析 | 第25-28页 |
| ·本章小结 | 第28-30页 |
| 第3章 应用斯塔克效应测量等离子体温度和电子密度 | 第30-44页 |
| ·局部热力学平衡 | 第30-31页 |
| ·斯塔克效应(Stark effect) | 第31-36页 |
| ·其他展宽效应 | 第36-40页 |
| ·自然展宽(Natural line broadening) | 第36页 |
| ·多普勒展宽(Doppler broadening) | 第36-37页 |
| ·共振展宽(Resonance broadening) | 第37页 |
| ·范德瓦尔斯展宽(Van der Waals broadening) | 第37-39页 |
| ·光学仪器展宽(Instrumental broadening) | 第39-40页 |
| ·应用斯塔克效应测量电子温度和密度 | 第40-43页 |
| ·斯塔克展宽和中心波长移动的确定 | 第40-42页 |
| ·应用斯塔克效应测得的等离子体电子温度和密度 | 第42-43页 |
| ·可能的误差来源 | 第43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 应用黑体辐射测量等离子体温度 | 第44-49页 |
| ·黑体辐射 | 第44-48页 |
| ·黑体 | 第44-45页 |
| ·发射率和灰体 | 第45页 |
| ·黑体辐射测温 | 第45-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第5章 两种测温方法的比较 | 第49-52页 |
| ·两种测温结果的比较 | 第49-51页 |
| ·两种测温方法的比较 | 第50页 |
| ·黑体辐射测温的优缺点 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
