| 目录 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-11页 |
| 第一章 前言 | 第11-19页 |
| ·电子器件的尺寸极限 | 第11-12页 |
| ·分子电子学简介 | 第12页 |
| ·分子器件的实验研究方法 | 第12-15页 |
| ·力学可控劈裂方法 | 第12-13页 |
| ·扫描隧道显微镜方法 | 第13-15页 |
| ·原子力显微镜方法 | 第15页 |
| ·有机分子的界面结构及电学性质研究现状 | 第15-17页 |
| ·本文的工作 | 第17-19页 |
| 第二章 理论方法 | 第19-35页 |
| ·密度泛函理论 | 第19-26页 |
| ·从头计算方法 | 第20-21页 |
| ·Born-Oppenheimer 近似 | 第21-22页 |
| ·Hohenberg-Kohn 定理 | 第22-23页 |
| ·Kohn-Sham 方程 | 第23-24页 |
| ·交换关联泛函 | 第24-26页 |
| ·弹性散射格林函数方法 | 第26-35页 |
| ·电流与电导 | 第26-30页 |
| ·输运函数 | 第30-32页 |
| ·耦合常数 | 第32-33页 |
| ·费米能级的确定 | 第33-34页 |
| ·分子轨道的分布 | 第34-35页 |
| 第三章 金电极界面结构对分子器件稳定性的影响 | 第35-47页 |
| ·分子结几何结构 | 第35-37页 |
| ·计算方法 | 第37-38页 |
| ·计算结果与讨论 | 第38-45页 |
| ·界面结构对分子结稳定性的影响 | 第38-40页 |
| ·压缩状态几何结构分析 | 第40-42页 |
| ·COO~--Au分子结与SMe Au分子结的强度比较 | 第42-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 第四章 不同金电极界面结构下共轭分子器件的电输运性质 | 第47-61页 |
| ·各分子器件在平衡位置的 I V曲线 | 第47-48页 |
| ·各分子器件在两种电极界面结构下的电导分布研究 | 第48-51页 |
| ·各分子器件在第 1 种电极界面结构下的导电机制分析 | 第51-53页 |
| ·输运谱 | 第51-52页 |
| ·耦合常数 | 第52-53页 |
| ·分子轨道分布对分子体系电输运性质的影响 | 第53-59页 |
| ·第 1 种电极界面结构中的分子轨道分布 | 第53-56页 |
| ·第 2 种电极界面结构中的分子轨道分布 | 第56-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 第五章 总结与展望 | 第61-65页 |
| ·本文工作的主要内容 | 第61页 |
| ·本文工作的主要结论 | 第61-62页 |
| ·本文工作的创新之处 | 第62页 |
| ·工作展望 | 第62-65页 |
| 参考文献 | 第65-71页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
