基于高性能开阔场的EMC天线测量系统研究
致谢 | 第1-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-11页 |
1 引言 | 第11-16页 |
·研究背景和意义 | 第11-12页 |
·国内外研究现状 | 第12-15页 |
·开阔试验场的发展及国内外研究现状 | 第12-13页 |
·EMC天线系数测量的发展及国内外研究现状 | 第13-14页 |
·天线系数测量不确定度评定研究现状 | 第14页 |
·目前在开阔场进行天线校准时存在的问题 | 第14-15页 |
·本文研究内容 | 第15-16页 |
2 EMC天线校准的基本方法及原理 | 第16-24页 |
·标准场地法(SSM) | 第16-19页 |
·参考天线法(RAM) | 第19-20页 |
·单锥镜像法 | 第20-22页 |
·测量自由空间天线系数的新方法 | 第22-23页 |
·本章总结 | 第23-24页 |
3 基于开阔场的EMC天线测试系统程序设计 | 第24-44页 |
·程序开发环境概述 | 第24-25页 |
·系统总结构 | 第25-27页 |
·测试主程序设计及实现 | 第27-34页 |
·参数设置和校准模块 | 第27-29页 |
·天线塔控制模块 | 第29-32页 |
·数据的采集及保存 | 第32页 |
·主程序的设计及实现 | 第32-34页 |
·数据处理程序设计及实现 | 第34-42页 |
·标准场地法数据处理程序设计 | 第34-37页 |
·参考天线法数据处理程序设计 | 第37-39页 |
·近场耦合修正与相位中心修正 | 第39-42页 |
·本章总结 | 第42-44页 |
4 EMC天线系数测量不确定度评定研究 | 第44-60页 |
·不确定度评定的数学模型 | 第44-46页 |
·与场地衰减(SA)相关的测量不确定度的源 | 第45页 |
·与天线系数(F_A)相关的测量不确定度的源 | 第45-46页 |
·与SA相关的测量不确定度研究 | 第46-54页 |
·线缆损耗随温度变化引起的不确定度 | 第46页 |
·天线间距离误差引起的不确定度 | 第46-47页 |
·阻抗失配引起的不确定度 | 第47-49页 |
·网络分析仪引起的不确定度 | 第49-50页 |
·背景噪声引起的不确定度 | 第50-51页 |
·系统重复性引起的不确定度 | 第51-52页 |
·联合不确定度 | 第52-54页 |
·由近场耦合引起的不确定度 | 第54-56页 |
·三天线法测量天线系数的不确定度研究 | 第56-58页 |
·参考天线法测量天线系数的不确定度研究 | 第58-59页 |
·本章总结 | 第59-60页 |
5 特殊因素对EMC天线测量影响的仿真分析 | 第60-70页 |
·场地周围金属网影响的仿真分析 | 第60-63页 |
·场地周围树木反射的仿真分析及实际测量 | 第63-65页 |
·天线塔反射影响的仿真分析 | 第65-67页 |
·天线极化影响的仿真分析 | 第67-69页 |
·本章总结 | 第69-70页 |
6 结论 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-74页 |
作者简历 | 第74-76页 |
学位论文数据集 | 第76页 |