高精密弹簧性能测试仪
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-10页 |
| ·引言 | 第8页 |
| ·高精密弹簧性能测试仪国内研究现状 | 第8页 |
| ·测试仪设计的主要内容 | 第8-10页 |
| 2 测试仪设计思路 | 第10-12页 |
| ·测试仪测量原理 | 第10页 |
| ·测试仪硬件结构 | 第10-11页 |
| ·测试仪设计精度要求 | 第11页 |
| ·本章小结 | 第11-12页 |
| 3 主控制器及其外围主要电路 | 第12-20页 |
| ·微控制器的选择 | 第12-15页 |
| ·MSP430f149 性能概述 | 第12-13页 |
| ·MSP430f149 的结构 | 第13-15页 |
| ·MSP430f149 的外围主要电路 | 第15-19页 |
| ·光电位置传感器电路 | 第15-16页 |
| ·MSP430f149 的异步串行通讯电路 | 第16-17页 |
| ·矩阵键盘电路 | 第17-18页 |
| ·MSP430f149 的 JTAG 调试接口 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 4 测试仪传动机构 | 第20-26页 |
| ·测试仪传动机构说明 | 第20-22页 |
| ·弹簧微小形变距离的给定 | 第22-25页 |
| ·电机细分驱动与减振 | 第22-23页 |
| ·编码器闭环检测 | 第23页 |
| ·增量式编码器的四细分辨向电路 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 5 微压力测量机构 | 第26-38页 |
| ·微压力测量机构参数说明 | 第26页 |
| ·信号调理电路 | 第26-27页 |
| ·阻抗变换电路 | 第26-27页 |
| ·低通滤波电路 | 第27页 |
| ·信号放大电路 | 第27-29页 |
| ·AD620 性能说明 | 第28-29页 |
| ·AD620 放大倍数的设定 | 第29页 |
| ·基于 CS5532 的压力信号采集电路 | 第29-35页 |
| ·CS5532 主要性能特点 | 第30-32页 |
| ·CS5532 模拟输入 | 第32页 |
| ·CS5532 内部寄存器及操作模式 | 第32-33页 |
| ·CS5532 转换输出编码 | 第33页 |
| ·CS5532 的串行接口及读写时序 | 第33-35页 |
| ·基于 MAX6162 的 ADC 基准电压源 | 第35-36页 |
| ·MAX6126 主要性能特点 | 第35-36页 |
| ·基准电压源设计要点 | 第36页 |
| ·PCB 电路板设计采用的抗干扰方法 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 6 测试仪软件设计与实现 | 第38-45页 |
| ·测试仪软件开发环境与编程思想 | 第38-39页 |
| ·测试仪各模块程序编写 | 第39-43页 |
| ·矩阵键盘判断 | 第39-40页 |
| ·异步串行通讯程序 | 第40页 |
| ·微压力检测机构模数转换程序 | 第40-41页 |
| ·ADC 转换数据处理程序 | 第41页 |
| ·仪器零位标定程序 | 第41-42页 |
| ·LCD 显示程序 | 第42-43页 |
| ·测试仪主程序流程图 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 7 测试仪调试及数据分析 | 第45-50页 |
| ·传动机构调试 | 第45-47页 |
| ·传动机构给定弹簧位移的速度 | 第45-46页 |
| ·弹簧微位移给定与检测精度 | 第46-47页 |
| ·微压力检测精度 | 第47页 |
| ·测试仪测试弹簧倔强系数的误差和重复性检定 | 第47-48页 |
| ·测试仪调试过程遇到的问题及解决方法 | 第48-49页 |
| ·电压转换芯片 AMS1117 的发热问题 | 第48页 |
| ·开关电源的散热 | 第48页 |
| ·异步串行通讯的准确性 | 第48页 |
| ·标定弹簧的初始位置 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 8 总结 | 第50-51页 |
| 攻读学位期间参加的科研项目及发表的学术论文 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-56页 |
| 附录 | 第56-68页 |