| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| ·本课题研究意义和背景 | 第8页 |
| ·本课题国内外发展概况 | 第8-11页 |
| ·本课题主要研究内容 | 第11-12页 |
| 2 测试系统的测试原理 | 第12-18页 |
| ·弹丸质量的测试原理 | 第12-13页 |
| ·弹丸质心的测试原理 | 第13页 |
| ·弹丸转动惯量的测试原理 | 第13-15页 |
| ·弹丸偏心矩的测试原理 | 第15-17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 3 测试系统的总体设计 | 第18-21页 |
| ·测试系统的性能指标 | 第18页 |
| ·测试系统的设计方案 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-21页 |
| 4 测试系统的测试台结构 | 第21-26页 |
| ·弹丸质量、质心的测试台结构 | 第21页 |
| ·弹丸偏心距的测试台结构 | 第21-23页 |
| ·弹丸转动惯量的测试台结构 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-26页 |
| 5 测试系统的下位机硬件结构设计 | 第26-35页 |
| ·核心单片机的选择 | 第26页 |
| ·质量质心测试系统硬件电路结构设计 | 第26-31页 |
| ·称重传感器的选择及连接 | 第27-28页 |
| ·A/D转换器的选择及连接 | 第28-29页 |
| ·通信接口电路 | 第29-31页 |
| ·偏心距测试系统硬件电路结构设计 | 第31-34页 |
| ·光电传感器 | 第31-32页 |
| ·信号调理电路 | 第32-34页 |
| ·转动惯量测试系统硬件电路结构设计 | 第34页 |
| ·供电电源设计 | 第34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 6 测试系统的下位机软件设计 | 第35-45页 |
| ·下位机主程序 | 第35-36页 |
| ·串口初始化子程序 | 第36-37页 |
| ·AD初始化子程序 | 第37-41页 |
| ·初始化AD寄存器 | 第38-39页 |
| ·AD内部校准 | 第39-40页 |
| ·AD转换模式的设置 | 第40-41页 |
| ·AD转换并读取转换结果子程序 | 第41-43页 |
| ·串口通信子程序 | 第43页 |
| ·测量周期子程序 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 7 测试系统的上位机软件设计 | 第45-54页 |
| ·程序主界面 | 第45-46页 |
| ·串口设置 | 第46-47页 |
| ·传感器标定 | 第47-48页 |
| ·扭转系数标定 | 第48-49页 |
| ·测试 | 第49-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 8 实验数据及误差分析 | 第54-61页 |
| ·实验数据 | 第54-56页 |
| ·系数的标定 | 第54页 |
| ·质量、质心的实验数据 | 第54页 |
| ·偏心距的实验数据 | 第54-55页 |
| ·转动惯量的实验数据 | 第55-56页 |
| ·质量测量误差 | 第56页 |
| ·轴向质心位置测量误差 | 第56-57页 |
| ·称重传感器测量误差引起的轴向质心位置测量误差 | 第56-57页 |
| ·传感器安装引起的坐标误差引起的轴向质心位置测量误差 | 第57页 |
| ·转动惯量测量误差 | 第57-58页 |
| ·系统测量周期不准引起的转动惯量测量误差 | 第57页 |
| ·阻尼引起的转动惯量误差分析 | 第57-58页 |
| ·初摆角对测量结果的影响 | 第58页 |
| ·偏心距测量误差 | 第58-59页 |
| ·质量测量误差引起的偏心距测量误差 | 第59页 |
| ·被测弹丸装配偏移误差分析 | 第59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 9 全文总结 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
| 附录 | 第66-69页 |