超高频射频识别系统测试关键问题的分析与研究
摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-13页 |
插图索引 | 第13-16页 |
附表索引 | 第16-17页 |
第1章 绪论 | 第17-32页 |
·课题研究背景 | 第17-18页 |
·课题研究意义 | 第18-21页 |
·RFID测试技术研究发展及现状 | 第21-30页 |
·国外RFID测试研究工作现状 | 第21-23页 |
·国内RFID测试研究工作现状 | 第23-24页 |
·RFID测试的主要内容及挑战 | 第24-27页 |
·RFID技术相关标准 | 第27-30页 |
·主要研究工作 | 第30-32页 |
第2章 超高频射频识别技术及测试系统设计 | 第32-62页 |
·RFID系统的组成 | 第32-36页 |
·标签的结构及类型 | 第33-35页 |
·读写器结构及类型 | 第35-36页 |
·RFID系统测试技术 | 第36-38页 |
·RFID测试标准及测试环境 | 第38-40页 |
·RFID系统的测试标准 | 第38-40页 |
·RFID系统的测试环境 | 第40页 |
·RFID测试平台的设计与开发 | 第40-53页 |
·虚拟仪器技术 | 第41-43页 |
·软件定义无线电技术 | 第43-45页 |
·RFID测试平台的功能设计 | 第45-46页 |
·RFID测试平台的架构 | 第46-49页 |
·RFID测试平台软硬件结构 | 第49-52页 |
·RFID测试平台的特点 | 第52-53页 |
·RFID测试系统平台的功能 | 第53-61页 |
·RFID协议一致性测试 | 第53-57页 |
·RFID产品性能测试 | 第57-58页 |
·电气性能参数的测试 | 第58-59页 |
·第三方监听测试 | 第59-61页 |
·小结 | 第61-62页 |
第3章 无源超高频RFID系统动态性能测试 | 第62-78页 |
·ISO/IEC 18000-6C介绍 | 第62-65页 |
·前向链路的PIE编码 | 第63-64页 |
·反向链路的FM0编码 | 第64-65页 |
·无线传播预测模型 | 第65-66页 |
·动态性能测试系统设计方案 | 第66-68页 |
·链路预测理论分析 | 第68-72页 |
·实验测试及结果 | 第72-76页 |
·标签灵敏度测试 | 第73-74页 |
·Tari对应答功率影响的测试 | 第74-75页 |
·脉冲宽度对应答功率影响的测试 | 第75-76页 |
·调制系数对应答功率影响的测试 | 第76页 |
·小结 | 第76-78页 |
第4章 超高频段射频标签应用性能分析与测试 | 第78-106页 |
·标签芯片的读灵敏度和读取距离 | 第78-87页 |
·标签电路等效原理 | 第79-81页 |
·功率传输系数对读取性能的影响 | 第81-87页 |
·标签的运动速度与读取率的研究 | 第87-93页 |
·理论分析 | 第87-89页 |
·速度对读取性能的影响 | 第89-90页 |
·标签位置对读取性能的影响 | 第90-93页 |
·介质对读取性能的影响分析 | 第93-100页 |
·金属目标对读取率的影响 | 第94-97页 |
·瓶装液体对读取性能的影响 | 第97-98页 |
·多种材质条件下的读取性能对比 | 第98-100页 |
·天线的极化方向对标签性能的影响 | 第100-105页 |
·理论分析 | 第101-102页 |
·测试分析 | 第102-105页 |
·小结 | 第105-106页 |
第5章 反向散射RFID防冲突算法性能测试 | 第106-128页 |
·引言 | 第106-107页 |
·RFID通信的冲突类型 | 第107-108页 |
·标签冲突 | 第107页 |
·读写器冲突 | 第107-108页 |
·读写器间频率干扰 | 第108页 |
·多标签防冲突算法 | 第108-113页 |
·ALOHA算法 | 第109-111页 |
·树形搜索防冲突算法 | 第111-112页 |
·读写器防冲突算法 | 第112页 |
·冲突算法性能比较总结 | 第112-113页 |
·基于动态帧时隙的ALOHA的自适应Q值算法 | 第113-116页 |
·标签盘存时序 | 第114-115页 |
·自适应Q值算法 | 第115-116页 |
·Q值算法性能分析及状态模型 | 第116-123页 |
·马尔科夫链 | 第116-117页 |
·性能模型的建立 | 第117-118页 |
·模型分析 | 第118-120页 |
·模型求解 | 第120-121页 |
·性能参数计算 | 第121-123页 |
·实验测试 | 第123-127页 |
·小结 | 第127-128页 |
第6章 总结与展望 | 第128-130页 |
·本文的主要工作 | 第128-129页 |
·未来工作的设想 | 第129-130页 |
参考文献 | 第130-140页 |
致谢 | 第140-141页 |
附录A 测试控制平台软硬件说明 | 第141-148页 |
附录B 攻读学位期间发表的学术论文 | 第148-149页 |
附录C 攻读学位期间参与的科研课题和获奖情况 | 第149页 |