基于噪声的微波陶瓷电容器缺陷表征方法和软件研究
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-9页 |
·研究背景 | 第7页 |
·研究现状 | 第7-8页 |
·全文内容安排 | 第8-9页 |
第二章 微波陶瓷电容的缺陷来源与漏电流 | 第9-23页 |
·微波介电陶瓷发展历程 | 第9-10页 |
·微波陶瓷电容中的常见失效 | 第10-15页 |
·微波陶瓷电容失效模式 | 第10页 |
·微波陶瓷电容失效机理分析 | 第10-15页 |
·微波陶瓷电容中的缺陷及其来源 | 第15-19页 |
·生产过程中存在的缺陷 | 第15-16页 |
·加工过程中引入的缺陷 | 第16-18页 |
·使用过程中存在的缺陷 | 第18-19页 |
·介质中的漏电流 | 第19-20页 |
·陶瓷介质中的缺陷与漏电流、噪声的关系 | 第20-23页 |
第三章 微波陶瓷电容的I-V特性和低频噪声测试 | 第23-43页 |
·微波陶瓷电容的缺陷检测方法 | 第23-25页 |
·加速寿命实验 | 第23页 |
·常规无损检测方法 | 第23-24页 |
·噪声无损检测方法 | 第24-25页 |
·微波陶瓷电容I-V特性测试方案 | 第25-26页 |
·微波陶瓷电容I-V特性测试原理 | 第26-27页 |
·微波陶瓷电容噪声测试方案 | 第27-28页 |
·微波陶瓷电容噪声测试系统 | 第28-43页 |
·噪声测试系统组成 | 第28-29页 |
·噪声测试硬件系统 | 第29-30页 |
·噪声测试虚拟仪器软件设计 | 第30-32页 |
·噪声测试分析软件实现 | 第32-33页 |
·微波陶瓷电容器噪声测试系统的功能 | 第33-43页 |
第四章 微波陶瓷电容I-V特性和低频噪声特性研究 | 第43-61页 |
·微波陶瓷电容I-V特性研究(漏电流输运机制) | 第43-50页 |
·介质漏电流输运机制分类 | 第43-47页 |
·I-V特性测试实验结果及输运机制讨论 | 第47-50页 |
·噪声测试系统验证 | 第50-53页 |
·噪声测试系统验证方案 | 第51页 |
·噪声测试系统验证结果 | 第51-53页 |
·微波陶瓷电容应力损伤灵敏表征参量优选 | 第53-55页 |
·灵敏表征参量优选原则 | 第53页 |
·电参量与噪声参量灵敏性比较 | 第53-55页 |
·微波陶瓷电容低频噪声特性研究 | 第55-61页 |
·微波陶瓷电容低频噪声特性 | 第55-59页 |
·噪声特性分析讨论 | 第59-61页 |
第五章 结束语 | 第61-63页 |
·本文总结 | 第61页 |
·展望 | 第61-63页 |
致谢 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-71页 |
研究生在读期间研究成果 | 第71页 |