| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·研究背景 | 第9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-11页 |
| ·本文主要研究内容 | 第11页 |
| ·本文主要结构 | 第11-13页 |
| 第二章 可靠性试验方法与理论 | 第13-28页 |
| ·可靠性的基本概念 | 第13-15页 |
| ·可靠度 | 第13-14页 |
| ·累积故障分布函数 F(t) | 第14页 |
| ·故障概率密度函数 f(t) | 第14页 |
| ·故障率函数（或称失效率函数）λ (t) | 第14页 |
| ·平均寿命θ | 第14-15页 |
| ·可靠性试验 | 第15-21页 |
| ·可靠性试验的分类 | 第16-17页 |
| ·贯穿寿命周期的产品试验与试验规程 | 第17-20页 |
| ·可靠性增长试验 | 第20-21页 |
| ·可靠性试验与工程研制试验的关系 | 第21页 |
| ·成—败型试验的可靠性估计与置信区间 | 第21-23页 |
| ·成—败型试验 | 第21-23页 |
| ·成功试验 | 第23页 |
| ·加速应力试验(AST) | 第23-26页 |
| ·加速寿命试验 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 电迁移加速寿命试验小样本数据处理方法 | 第28-53页 |
| ·电迁移过程传统表征参量 | 第28-29页 |
| ·对数正态(Lognormal)分布 | 第29-30页 |
| ·电迁移测试方法 | 第30-35页 |
| ·测试结构 | 第30-31页 |
| ·常用的测试方法及测试系统 | 第31-33页 |
| ·电迁移测试的数据统计方法 | 第33-35页 |
| ·小样本下电迁移加速寿命试验数据处理方法 | 第35-52页 |
| ·引例 | 第35-39页 |
| ·用 Bootstrap 方法对小样本进行数据扩充 | 第39-45页 |
| ·利用人工免疫系统（AIS）的数据挖掘 | 第45-49页 |
| ·利用 aiNet 算法对 Bootstrap 方法得到的参数进行聚类分析 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 成败型试验数据处理方法 | 第53-67页 |
| ·成败型试验结果数据处理思路 | 第53-55页 |
| ·各典型类非电子产品可靠性试验基本方案 | 第55-58页 |
| ·特征量为结构强度可靠性试验方案 | 第55-56页 |
| ·特征量为寿命（服从 Weibull 分布）的可靠性试验方案 | 第56-57页 |
| ·特征量为功能参数的可靠性试验方案 | 第57-58页 |
| ·某伺服系统可靠性试验方法 | 第58-66页 |
| ·系统工作特点及薄弱环节的确定 | 第58-59页 |
| ·伺服系统可靠性验证指标及其验证试验的考虑 | 第59-60页 |
| ·伺服系统可靠性试验 | 第60-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 结论与展望 | 第67-69页 |
| ·结论 | 第67页 |
| ·展望 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第73-74页 |
