辐射源指纹识别与细微特征提取方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-13页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·课题研究的背景 | 第10-11页 |
| ·辐射源指纹识别的国内外研究现状 | 第11-12页 |
| ·论文主要工作及内容安排 | 第12-13页 |
| 第2章 辐射源指纹识别系统理论基础 | 第13-26页 |
| ·引言 | 第13页 |
| ·辐射源指纹特征产生机理 | 第13-16页 |
| ·雷达发射机的组成 | 第13-14页 |
| ·相位噪声概述 | 第14-15页 |
| ·频率合成器中的相位噪声 | 第15-16页 |
| ·辐射源指纹识别系统的组成 | 第16-25页 |
| ·系统模块 | 第16-17页 |
| ·特征选择和特征提取 | 第17-19页 |
| ·分类器的设计 | 第19-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 辐射源指纹特征的建模与仿真实现 | 第26-35页 |
| ·引言 | 第26页 |
| ·相位噪声功率谱特征分析 | 第26-29页 |
| ·相位噪声的单边带功率谱密度模型 | 第26-27页 |
| ·相位噪声功率谱与等效噪声电压相对功率谱的关系 | 第27-29页 |
| ·相位噪声的性能指标研究 | 第29页 |
| ·相位噪声的建模与仿真 | 第29-34页 |
| ·相位噪声的建模 | 第29-30页 |
| ·相位噪声模型的仿真 | 第30-33页 |
| ·相位噪声建模方法的性能评估 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 辐射源指纹特征提取方法研究 | 第35-57页 |
| ·引言 | 第35页 |
| ·基于频率偏移量的辐射源特征提取 | 第35-44页 |
| ·基于 FFT 的 Rife 算法估计频率 | 第35-39页 |
| ·修正的 Rife 算法 | 第39-40页 |
| ·基于频率偏移量的辐射源特征分析 | 第40-44页 |
| ·基于双谱分析的辐射源特征提取 | 第44-48页 |
| ·高阶累计量和高阶谱定义 | 第44-45页 |
| ·双谱性质 | 第45-46页 |
| ·双谱的切片 | 第46页 |
| ·基于双谱切片的辐射源特征分析 | 第46-48页 |
| ·基于抖动的辐射源特征提取 | 第48-52页 |
| ·抖动的产生机理 | 第48-49页 |
| ·抖动和相位谱密度的关系 | 第49页 |
| ·抖动的计算方法 | 第49-50页 |
| ·基于抖动的辐射源特征分析 | 第50-52页 |
| ·基于阿伦方差的辐射源特征提取 | 第52-56页 |
| ·阿伦方差的定义 | 第53页 |
| ·阿伦方差和相位噪声谱密度的关系 | 第53页 |
| ·基于阿伦方差的辐射源特征分析 | 第53-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第5章 辐射源指纹识别系统的实现 | 第57-73页 |
| ·引言 | 第57页 |
| ·基于聚类分类器的设计 | 第57-60页 |
| ·基于模糊 K-均值的判决器设计 | 第57-59页 |
| ·基于模糊 C 均值的聚类算法 | 第59-60页 |
| ·基于 SVM 算法的分类器设计 | 第60-63页 |
| ·实验结果分析 | 第63-71页 |
| ·基于聚类方法的辐射源指纹特征识别 | 第65-69页 |
| ·基于 SVM 算法的辐射源指纹特征识别 | 第69-71页 |
| ·本章小结 | 第71-73页 |
| 结论 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
