中文摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-13页 |
第1章 绪论 | 第13-83页 |
·无机微孔材料简介 | 第13-44页 |
·无机微孔材料的发展概述 | 第14-18页 |
·无机微孔材料的分类 | 第18-41页 |
·无机微孔材料的合成方法 | 第41-43页 |
·无机微孔材料的主要应用 | 第43-44页 |
·高压技术与高压合成化学简介 | 第44-58页 |
·高压技术的产生和发展 | 第45-46页 |
·压强的单位 | 第46页 |
·高压的仪器和设备 | 第46-53页 |
·高压对于无机合成化学的作用 | 第53-58页 |
·稀土发光材料简介 | 第58-65页 |
·发光的分类和基本原理 | 第59-60页 |
·发光材料的性能 | 第60-62页 |
·稀土发光的类型 | 第62-64页 |
·稀土发光材料 | 第64-65页 |
·稀土硅酸盐简介 | 第65-78页 |
·稀土焦硅酸盐 | 第66页 |
·掺杂型稀土硅酸盐 | 第66-67页 |
·骨架型稀土硅酸盐 | 第67-78页 |
·本论文的选题目的和意义 | 第78-79页 |
·本论文所取得的主要结果 | 第79-80页 |
·本论文所使用的仪器及表征方法 | 第80-83页 |
第2章 稀土硅酸盐微孔化合物的高温高压水热合成 | 第83-117页 |
·引言 | 第83-84页 |
·含有一维硅酸盐链的硅酸钆 GdSiO-CJ7 的高温高压水热合成与表征 | 第84-91页 |
·GdSiO-CJ7 的合成原料与试剂 | 第84页 |
·GdSiO-CJ7 的合成条件及方法 | 第84-85页 |
·GdSiO-CJ7 的表征 | 第85-91页 |
·含有二维硅酸盐层的硅酸铽 TbSiO-CJ8 的高温高压水热合成与表征 | 第91-99页 |
·TbSiO-CJ8 的合成原料与试剂 | 第91页 |
·TbSiO-CJ8 的合成条件及方法 | 第91-92页 |
·TbSiO-CJ8 和 EuSiO-CJ8 的表征 | 第92-99页 |
·含有三维硅酸盐骨架的硅酸镝 DySiO-CJ9 的高温高压水热合成与表征 | 第99-103页 |
·DySiO-CJ9 的合成原料与试剂 | 第99-100页 |
·DySiO-CJ9 的合成条件及方法 | 第100页 |
·DySiO-CJ9 的表征 | 第100-103页 |
·稀土硅酸盐 Rb2TbSi4O10F 的高温高压水热合成与表征 | 第103-110页 |
·Rb2TbSi4O10F 的合成原料与试剂 | 第103页 |
·Rb2TbSi4O10F 的合成条件及方法 | 第103-104页 |
·Rb2TbSi4O10F 的表征 | 第104-110页 |
·稀土硅酸盐 Rb3TbSi6O15的高温高压水热合成与表征 | 第110-114页 |
·Rb3TbSi6O15的合成原料与试剂 | 第110页 |
·Rb3TbSi6O15的合成条件及方法 | 第110页 |
·Rb3TbSi6O15的表征 | 第110-114页 |
·本章小结 | 第114-117页 |
第3章 稀土硅酸盐/锗酸盐化合物的原位高压相转变及荧光性质研究 | 第117-169页 |
·引言 | 第117-120页 |
·压力对物质晶体结构的影响 | 第118-119页 |
·压力对物质电子结构的影响 | 第119-120页 |
·同步辐射 X 射线衍射简介 | 第120-122页 |
·稀土锗酸盐化合物 NaEuGeO4原位高压相转变及荧光性质分析 | 第122-134页 |
·NaEuGeO4的合成及常压 X 射线衍射分析 | 第122页 |
·常压下 NaEuGeO4的单晶结构解析 | 第122-124页 |
·原位高压 NaEuGeO_4的荧光光谱分析 | 第124-129页 |
·原位高压 NaEuGeO_4的同步辐射 X 射线衍射光谱分析 | 第129-134页 |
·稀土锗酸盐化合物 NaEu_3(GeO_4)_2(OH)_2原位高压相转变及荧光性质研究 | 第134-145页 |
·NaEu_3(GeO_4)_2(OH)_2的合成及常压下的 X 射线衍射分析 | 第134-136页 |
·常压下 NaEu_3(GeO_4)_2(OH)_2的单晶结构解析 | 第136-138页 |
·原位高压 NaEu_3(GeO_4)_2(OH)_2的荧光光谱分析 | 第138-140页 |
·原位高压 NaEu_3(GeO_4)_2(OH)_2的同步辐射X射线衍射光谱分析 | 第140-145页 |
·稀土硅酸盐化合物 NaEuSiO_4(EuSiO-CJ6)原位高压相转变及荧光性质研究 | 第145-153页 |
·原位高压 EuSiO-CJ6 的荧光光谱分析 | 第145-147页 |
·原位高压 EuSiO-CJ6 的同步辐射 X 射线衍射光谱分析 | 第147-153页 |
·其他稀土硅酸盐的原位高压荧光性质研究 | 第153-166页 |
·K_3EuSi_6O_(15)·3H_2O(EuSiO-CJ4)原位高压荧光性质研究 | 第153-155页 |
·K_8Eu_3Si_(12)O_(32)(NO_3)·H_2O(EuSiO-CJ5)原位高压荧光性质研究 | 第155-159页 |
·K_3EuSi_3O_8(OH)——2(AV-22)原位高压荧光性质研究 | 第159-162页 |
·Rb_2EuSi_4O_(10)F 原位高压荧光性质研究 | 第162-166页 |
·本章小结 | 第166-169页 |
第4章 原位高压介孔分子筛负载罗丹明 B 的荧光光谱研究 | 第169-187页 |
·引言 | 第169-170页 |
·介孔分子筛的合成 | 第170-172页 |
·原料与试剂 | 第170-171页 |
·介孔分子筛 MCM-41 的合成 | 第171页 |
·介孔分子筛 SBA-15 的合成 | 第171页 |
·介孔分子筛 MCM-41 和 SBA-15 的硅烷化 | 第171页 |
·罗丹明 B 在介孔分子筛上的负载 | 第171-172页 |
·介孔分子筛的表征 | 第172-175页 |
·小角 X 射线衍射光谱 | 第172页 |
·氮气吸附测试 | 第172-175页 |
·MCM-41 和烷基化的 MCM-41 负载罗丹明 B 后的原位高压下的荧光光谱研究 | 第175-179页 |
·SBA-15 和烷基化的 SBA-15 负载罗丹明 B 后的原位高压下的荧光光谱研究 | 第179-185页 |
·本章小结 | 第185-187页 |
第5章 原位高压 Y 沸石负载 CdSe 量子点的荧光光谱研究 | 第187-203页 |
·引言 | 第187-191页 |
·量子点的基本性质 | 第187-189页 |
·量子点的荧光性质 | 第189-191页 |
·负载 CdSe 量子点的 Y 沸石的合成 | 第191-193页 |
·原料与试剂 | 第191页 |
·Y 沸石的合成及表征 | 第191-193页 |
·CdSe 量子点负载的 Y 沸石的合成 | 第193页 |
·CdSe 负载的 Y 沸石的表征 | 第193-195页 |
·样品 Y-CdSe-1 原位高压荧光光谱研究 | 第195-199页 |
·样品 Y-CdSe-2 原位高压荧光光谱研究 | 第199-202页 |
·本章小结 | 第202-203页 |
第6章 结论与展望 | 第203-207页 |
参考文献 | 第207-237页 |
作者简历 | 第237-239页 |
攻读博士期间发表论文 | 第239-241页 |
致谢 | 第241-242页 |