基于DSP的电子万能试验机测控系统研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
第一章 绪论 | 第8-16页 |
·前言 | 第8-9页 |
·试验机及其测控技术的发展状况 | 第9-12页 |
·试验机的发展状况和发展趋势 | 第9-11页 |
·试验机测控技术的发展状况 | 第11-12页 |
·选题背景及意义 | 第12-15页 |
·选题背景 | 第12-14页 |
·研究意义 | 第14-15页 |
·本文主要工作 | 第15-16页 |
第二章 电子万能试验机测控系统总体方案设计 | 第16-25页 |
·电子万能试验机概述 | 第16-20页 |
·试验机测控系统简介 | 第16页 |
·试验机的测量参数分析 | 第16-18页 |
·试验机的组成及工作原理 | 第18-20页 |
·试验机测控系统的方案设计 | 第20-23页 |
·试验机测控系统方案论证 | 第20页 |
·系统总体结构 | 第20-21页 |
·系统组成单元的具体方案设计 | 第21-22页 |
·试验机的技术参数 | 第22-23页 |
·测控系统中DSP主控制器的功能分析 | 第23-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
第三章 电子万能试验机测控系统的硬件设计 | 第25-51页 |
·DSP概述 | 第25-27页 |
·DSP的介绍 | 第25页 |
·DSP芯片的选择 | 第25-27页 |
·DSP芯片的应用 | 第27页 |
·基于TMS320F2812 的主控制器的设计 | 第27-38页 |
·TMS320F2812 简介 | 第27-31页 |
·试验机测控系统控制模块的设计 | 第31-32页 |
·存储器扩展模块的设计 | 第32-34页 |
·外围通用接口模块设计 | 第34-35页 |
·人机交互接口模块的设计 | 第35-38页 |
·数据通信接口模块的设计 | 第38-42页 |
·通用串行通信接口 | 第38-39页 |
·USB接口的设计 | 第39-40页 |
·以太网接口的设计 | 第40-42页 |
·数据采集模块的设计 | 第42-46页 |
·数据测量原理 | 第42-44页 |
·A/D转换电路的设计 | 第44-46页 |
·伺服系统模块的设计 | 第46-50页 |
·伺服系统概述 | 第46-48页 |
·试验机伺服系统总体结构分析 | 第48-49页 |
·伺服系统硬件电路的设计 | 第49-50页 |
·本章小结 | 第50-51页 |
第四章 电子万能试验机测控系统软件设计 | 第51-72页 |
·软件设计概述 | 第51页 |
·DSP集成开发环境CCS | 第51-54页 |
·CCS功能介绍 | 第51-53页 |
·CCS开发流程 | 第53-54页 |
·DSP主控制器的软件设计 | 第54-57页 |
·系统的初始化 | 第54页 |
·主程序的设计 | 第54-55页 |
·人机交互模块的设计 | 第55-57页 |
·数据采集模块的程序设计 | 第57-58页 |
·数据通信接口程序设计 | 第58-65页 |
·通用串行口程序设计 | 第58-59页 |
·USB接口程序设计 | 第59-61页 |
·以太网接口程序设计 | 第61-65页 |
·基于DSP的伺服系统的软件设计 | 第65-71页 |
·三相永磁同步伺服电动机介绍 | 第65-67页 |
·磁场定向算法介绍 | 第67-70页 |
·三相永磁同步伺服电动机的DSP控制 | 第70-71页 |
·本章小结 | 第71-72页 |
第五章 电子万能试验机测控系统的调试 | 第72-85页 |
·硬件调试 | 第72-73页 |
·软件调试 | 第73-79页 |
·串行口的调试 | 第74页 |
·USB接口的调试 | 第74-75页 |
·以太网接口的调试 | 第75-79页 |
·系统抗干扰性及可靠性研究 | 第79-84页 |
·电磁干扰的形成因素 | 第79-80页 |
·干扰的来源 | 第80-81页 |
·干扰的藕合途径 | 第81页 |
·硬件上拟采取的抗干扰措施 | 第81-83页 |
·软件的抗干扰分析 | 第83-84页 |
·本章小结 | 第84-85页 |
第六章 总结与展望 | 第85-88页 |
·总结 | 第85-86页 |
·展望 | 第86-88页 |
参考文献 | 第88-93页 |
致谢 | 第93-94页 |
攻读硕士学位期间参与的科研项目和发表的学术论文 | 第94页 |