磁光记录介质特性检测技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·磁光记录读写原理 | 第10-11页 |
| ·磁光记录介质的发展 | 第11-13页 |
| ·磁光记录对记录介质的要求 | 第11-12页 |
| ·磁光记录介质的发展概况 | 第12-13页 |
| ·磁光记录介质的主要参数 | 第13页 |
| ·磁光记录介质磁光特性检测技术的发展 | 第13-16页 |
| ·本文研究的主要内容及结构安排 | 第16-17页 |
| 2 磁光记录介质特性测试方法研究 | 第17-28页 |
| ·磁光效应的唯象理论 | 第17-21页 |
| ·磁光介质的克尔角测试方法 | 第21-27页 |
| ·磁光介质的反射率测试方法 | 第27-28页 |
| 3 磁光记录介质特性测试系统研制 | 第28-49页 |
| ·测试系统的组成 | 第28-29页 |
| ·光电传感器的选用及电路设计 | 第29-33页 |
| ·光电传感器特性及选用 | 第29-32页 |
| ·光电信号检测电路设计 | 第32-33页 |
| ·克尔角信号检测光路设计 | 第33-40页 |
| ·光学元件部分 | 第34-36页 |
| ·光路机械结构设计 | 第36-40页 |
| ·克尔角信号检测电路设计 | 第40-46页 |
| ·电源部分设计 | 第40-43页 |
| ·激光功率的反馈控制 | 第43-44页 |
| ·输出光耦合器的使用 | 第44-45页 |
| ·提高性能的措施 | 第45-46页 |
| ·克尔角、反射率的计算 | 第46-49页 |
| 4 磁光记录介质特性测试系统的误差分析与静态特性 | 第49-62页 |
| ·引言 | 第49页 |
| ·误差分析理论 | 第49-51页 |
| ·产生误差的原因 | 第49-50页 |
| ·误差的分类 | 第50-51页 |
| ·克尔角、反射率测试误差分析 | 第51-56页 |
| ·光电池的噪声分析 | 第51-52页 |
| ·光电检测电路噪声估算 | 第52-54页 |
| ·四象限光电池引入的系统误差 | 第54-55页 |
| ·反射率测量误差分析 | 第55-56页 |
| ·其他噪声因素分析 | 第56页 |
| ·测试实验与数据处理 | 第56-59页 |
| ·测试系统的静态特性 | 第59-62页 |
| ·精确度 | 第60页 |
| ·稳定性 | 第60页 |
| ·系统的静态输入－输出特性 | 第60-62页 |
| 5 各种磁光记录介质的测试曲线及结果 | 第62-64页 |
| 6 总结 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 附录1 作者在攻读硕士学位期间所发表论文 | 第71页 |
