放入式电子测压器的调试、校准及可靠性设计
| 1 综述 | 第1-13页 |
| ·课题研究的目的、意义 | 第10-11页 |
| ·可靠性的历史 | 第11-13页 |
| ·国外可靠性发展状况 | 第11-12页 |
| ·国内可靠性发展状况 | 第12-13页 |
| 2 系统电路设计 | 第13-18页 |
| ·系统电路设计的原则 | 第13-14页 |
| ·系统构成及工作原理 | 第14-18页 |
| 3 可靠性概述 | 第18-25页 |
| ·可靠性概念 | 第18-19页 |
| ·衡量产品可靠性标准 | 第19-21页 |
| ·可靠性模型 | 第21-23页 |
| ·可靠性设计的基本内容 | 第23-25页 |
| 4 电路模块可靠性设计 | 第25-40页 |
| ·电路设计的原则 | 第25页 |
| ·元器件、零部件的选择 | 第25-29页 |
| ·元器件失效机理分析 | 第26-27页 |
| ·元器件选用的一般原则 | 第27-29页 |
| ·降额设计 | 第29页 |
| ·热设计 | 第29-30页 |
| ·冗余设计 | 第30-31页 |
| ·电磁兼容设计 | 第31-34页 |
| ·电路接地设计 | 第32-33页 |
| ·电路电源线的设计 | 第33页 |
| ·电路印制板的设计 | 第33-34页 |
| ·抗冲击设计 | 第34-36页 |
| ·容差分析 | 第36页 |
| ·电气互连的可靠性设计 | 第36-38页 |
| ·简化设计 | 第38页 |
| ·环境影响及其防护技术 | 第38-40页 |
| 5 系统配件--上电倒置开关的设计 | 第40-45页 |
| ·上电倒置开关简述 | 第40-41页 |
| ·上电倒置开关的设计 | 第41-45页 |
| ·水银式重力开关 | 第42-43页 |
| ·钢球式重力开关 | 第43页 |
| ·双球式倒置开关 | 第43-45页 |
| 6 可靠性筛选试验及电路调试检测 | 第45-61页 |
| ·元器件筛选试验 | 第45-51页 |
| ·筛选的基本原理 | 第45-46页 |
| ·筛选激发的失效机理分析 | 第46-47页 |
| ·筛选的原则 | 第47页 |
| ·筛选方法 | 第47-51页 |
| ·印制板电路的筛选 | 第51页 |
| ·电路调试 | 第51-59页 |
| ·电荷放大器的调试 | 第51-52页 |
| ·触发电路的调试 | 第52-54页 |
| ·数据异常电路调试 | 第54页 |
| ·电路量程范围的调试 | 第54-55页 |
| ·电路误触发的调试 | 第55-56页 |
| ·常见故障模式总结 | 第56-57页 |
| ·负延迟偏移的调试 | 第57-59页 |
| ·电路模块筛选试验 | 第59页 |
| ·电路模块检测 | 第59-61页 |
| ·电路采样频率的检测试验 | 第59-60页 |
| ·电路频率响应特性的检测试验 | 第60页 |
| ·电路上电时间长度的检测 | 第60-61页 |
| 7 校准及可靠性验证试验 | 第61-73页 |
| ·电路模块灵敏度校准 | 第62-64页 |
| ·电子测压器的动态灵敏度的校准 | 第64-73页 |
| ·动态校准的条件 | 第65-66页 |
| ·模拟膛压试验 | 第66-73页 |
| 结论与建议 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 攻读硕士期间发表论文及参与课题情况 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
