形状记忆合金相变点测试系统研究
| 第一章 绪论 | 第1-21页 |
| ·形状记忆效应基本原理 | 第12-13页 |
| ·形状记忆合金相变点的常用测量方法 | 第13-17页 |
| ·变温X射线法 | 第14页 |
| ·热分析法 | 第14-15页 |
| ·膨胀法 | 第15页 |
| ·声发射法 | 第15-16页 |
| ·电阻法 | 第16-17页 |
| ·芯片的选择 | 第17-21页 |
| ·单片机应用系统的设计原则 | 第17页 |
| ·MSP430单片机 | 第17-21页 |
| 第二章 系统的工作原理及硬件设计 | 第21-40页 |
| ·系统的工作原理及其硬件设计 | 第21-22页 |
| ·系统的电路设计 | 第22-38页 |
| ·电源电路 | 第23-24页 |
| ·复位电路 | 第24-25页 |
| ·时钟电路 | 第25页 |
| ·前向通道配置与接口 | 第25-35页 |
| ·温度传感器的选用 | 第25-26页 |
| ·放大器的选择 | 第26-27页 |
| ·模拟比较器 | 第27-32页 |
| ·16位定时器B | 第32-35页 |
| ·人机通道配置与接口 | 第35-38页 |
| ·显示器接口设计 | 第35-36页 |
| ·键接口设计 | 第36-37页 |
| ·打印机接口设计 | 第37-38页 |
| ·印刷电路板的设计 | 第38-40页 |
| ·PCB的设计 | 第38页 |
| ·PCB的装配与焊接 | 第38-40页 |
| 第三章 系统的软件设计 | 第40-46页 |
| ·采样及拟合部分程序设计 | 第40-41页 |
| ·显示程序设计 | 第41-42页 |
| ·键程序设计 | 第42-43页 |
| ·曲率法计算相变点 | 第43-44页 |
| ·FLASH存储器编程 | 第44-45页 |
| ·C及汇编语言编写软件 | 第45-46页 |
| 第四章 系统的抗干扰设计 | 第46-53页 |
| ·干扰的成因及后果 | 第46-47页 |
| ·电路设计中的抗干扰措施 | 第47-50页 |
| ·良好的接地方式 | 第47页 |
| ·采用隔离技术 | 第47页 |
| ·采用“看门狗”技术 | 第47-50页 |
| ·滤波技术 | 第50页 |
| ·设计印刷板的注意事项 | 第50-51页 |
| ·软件抗干扰措施 | 第51-53页 |
| ·数字滤波 | 第51页 |
| ·设置软件陷阱 | 第51-52页 |
| ·其他软件抗干扰措施 | 第52-53页 |
| 第五章 系统的调试 | 第53-60页 |
| ·硬件调试 | 第53-54页 |
| ·软件调试 | 第54-56页 |
| ·试验数据的处理与分析 | 第56-60页 |
| ·主要试验设备、仪器及材料 | 第56页 |
| ·试验过程及数据处理 | 第56-60页 |
| ·触点材料的选择 | 第56页 |
| ·静态测量 | 第56-57页 |
| ·差示扫描热量法(DSC法)测量 | 第57页 |
| ·X-Y函数记录仪测量 | 第57-58页 |
| ·试验结果与分析 | 第58-60页 |
| 第六章 结束语 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
