高温超导薄膜微波表面电阻的测量
| 第一章 绪论 | 第1-11页 |
| 1．1 超导的发展 | 第7-8页 |
| 1．2 超导电子器件的优越性 | 第8-9页 |
| 1．3 高温超导薄膜 | 第9-10页 |
| 1．4 工作内容 | 第10-11页 |
| 第二章 高温超导的机理 | 第11-18页 |
| 2．1 超导电性 | 第11-12页 |
| 2．2 超导体的微波电阻 | 第12-15页 |
| 2．3 超导薄膜微波表面电阻的特性 | 第15-18页 |
| 第三章 测试原理 | 第18-31页 |
| 3．1 高温超导薄膜微波表面电阻Rs的测试方法 | 第18-21页 |
| 3．1．1 平面电路谐振器法[18] | 第18-19页 |
| 3．1．2 加载超导薄膜的介质谐振器法 | 第19-20页 |
| 3．1．3 双蓝宝石圆柱介质谐振器法 | 第20-21页 |
| 3．2 蓝宝石介质谐振器法 | 第21-22页 |
| 3．3 理论分析 | 第22-29页 |
| 3．3．1 理论模型 | 第22-25页 |
| 3．3．2 A、B值的确定 | 第25-29页 |
| 3．4 固有品质因素Q_0的测量 | 第29-30页 |
| 3．5 小结 | 第30-31页 |
| 第四章 测试系统的组建 | 第31-39页 |
| 4．1 测试谐振器的研制 | 第31-32页 |
| 4．2 谐振器固有品质因素Q_0的计算 | 第32-36页 |
| 4．3 样品的制备 | 第36页 |
| 4．4 测试系统的建立 | 第36-39页 |
| 第五章 测试结果 | 第39-47页 |
| 5．1 HTS薄膜的Rs测量 | 第39-41页 |
| 5．2 误差分析 | 第41-46页 |
| 5．3 讨论 | 第46-47页 |
| 第六章 结论 | 第47-49页 |
| 致谢 | 第49-56页 |
