极低水平放射性废物测量系统设计与关键指标验证
摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
第一章 序论 | 第9-15页 |
1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
1.3 主要研究内容 | 第13-14页 |
1.3.1 系统研制总体方案设计 | 第13页 |
1.3.2 环境本底屏蔽技术 | 第13页 |
1.3.3 NaI探测器优化布局与系统探测效率 | 第13页 |
1.3.4 系统关键指标的实验验证 | 第13-14页 |
1.4 本章小结 | 第14-15页 |
第二章 放射性废物探测原理与方法 | 第15-24页 |
2.1 γ射线产生原理 | 第15页 |
2.2 天然放射性核素 | 第15-17页 |
2.3 γ射线与物质的相互作用 | 第17-19页 |
2.3.1 光电效应 | 第17-18页 |
2.3.2 康普顿效应 | 第18页 |
2.3.3 电子对效应 | 第18-19页 |
2.4 γ射线在物质中的吸收衰减 | 第19-20页 |
2.5 NaI(T1)闪烁探测器工作原理 | 第20-21页 |
2.6 最小可探测活度计算方法 | 第21-23页 |
2.6.1 辐射探测计数的统计规律 | 第21-22页 |
2.6.2 第一类错误与判断限 | 第22页 |
2.6.3 第二类错误与探测限 | 第22-23页 |
2.6.4 最小可探测活度的计算 | 第23页 |
2.7 本章小结 | 第23-24页 |
第三章 极低水平放射性废物测量系统设计 | 第24-39页 |
3.1 系统方案设计目标与主要研究内容 | 第24-25页 |
3.1.1 设计目标 | 第24页 |
3.1.2 主要内容 | 第24-25页 |
3.2 屏蔽体设计 | 第25-29页 |
3.2.1 蒙特卡罗方法及MCNP程序简介 | 第25-27页 |
3.2.1.1 蒙特卡罗方法基本思想 | 第25页 |
3.2.1.2 蒙特卡罗方法 | 第25-26页 |
3.2.1.3 MC方法在核领域中的应用 | 第26页 |
3.2.1.4 MCNP程序简介 | 第26-27页 |
3.2.2 铅屏蔽体设计 | 第27-28页 |
3.2.3 铜屏蔽层设计 | 第28-29页 |
3.3 NaI闪烁体厚度优化计算 | 第29-31页 |
3.4 NaI闪烁体布局优化计算 | 第31-34页 |
3.5 系统探测效率空间均匀性研究 | 第34-38页 |
3.5.1 测量腔轴向效率均匀性问题 | 第35-36页 |
3.5.2 测量腔径向效率均匀性问题 | 第36-38页 |
3.6 本章小结 | 第38-39页 |
第四章 测量系统关键指标验证 | 第39-52页 |
4.1 实验条件与方法 | 第39-44页 |
4.1.1 实验仪器简介 | 第39页 |
4.1.2 ~(152)Eu放射源 | 第39-40页 |
4.1.3 实验方法 | 第40-44页 |
4.1.3.1 能量刻度 | 第40-41页 |
4.1.3.2 屏蔽能力验证 | 第41页 |
4.1.3.3 系统本底评估 | 第41-42页 |
4.1.3.4 探测限验证 | 第42-44页 |
4.2 实验结果与讨论 | 第44-51页 |
4.2.1 系统环境辐射屏蔽效果 | 第44-46页 |
4.2.1.1 NaI探测器能量刻度结果 | 第44-45页 |
4.2.1.2 铅屏蔽效果验证 | 第45-46页 |
4.2.2 系统比活度探测水平验证 | 第46-51页 |
4.2.2.1 系统本底实验评估 | 第46-48页 |
4.2.2.2 系统最小可探测活度理论估算 | 第48-49页 |
4.2.2.3 系统最小可探测活度实验验证 | 第49-51页 |
4.3 本章小结 | 第51-52页 |
第五章 结论与展望 | 第52-53页 |
5.1 初步研究结果 | 第52页 |
5.2 下步工作展望 | 第52-53页 |
致谢 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-57页 |
硕士期间取得学术成果 | 第57页 |
参加学术活动 | 第57页 |