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极低水平放射性废物测量系统设计与关键指标验证

摘要第3-4页
Abstract第4-5页
第一章 序论第9-15页
    1.1 研究背景及意义第9-10页
    1.2 国内外研究现状第10-13页
    1.3 主要研究内容第13-14页
        1.3.1 系统研制总体方案设计第13页
        1.3.2 环境本底屏蔽技术第13页
        1.3.3 NaI探测器优化布局与系统探测效率第13页
        1.3.4 系统关键指标的实验验证第13-14页
    1.4 本章小结第14-15页
第二章 放射性废物探测原理与方法第15-24页
    2.1 γ射线产生原理第15页
    2.2 天然放射性核素第15-17页
    2.3 γ射线与物质的相互作用第17-19页
        2.3.1 光电效应第17-18页
        2.3.2 康普顿效应第18页
        2.3.3 电子对效应第18-19页
    2.4 γ射线在物质中的吸收衰减第19-20页
    2.5 NaI(T1)闪烁探测器工作原理第20-21页
    2.6 最小可探测活度计算方法第21-23页
        2.6.1 辐射探测计数的统计规律第21-22页
        2.6.2 第一类错误与判断限第22页
        2.6.3 第二类错误与探测限第22-23页
        2.6.4 最小可探测活度的计算第23页
    2.7 本章小结第23-24页
第三章 极低水平放射性废物测量系统设计第24-39页
    3.1 系统方案设计目标与主要研究内容第24-25页
        3.1.1 设计目标第24页
        3.1.2 主要内容第24-25页
    3.2 屏蔽体设计第25-29页
        3.2.1 蒙特卡罗方法及MCNP程序简介第25-27页
            3.2.1.1 蒙特卡罗方法基本思想第25页
            3.2.1.2 蒙特卡罗方法第25-26页
            3.2.1.3 MC方法在核领域中的应用第26页
            3.2.1.4 MCNP程序简介第26-27页
        3.2.2 铅屏蔽体设计第27-28页
        3.2.3 铜屏蔽层设计第28-29页
    3.3 NaI闪烁体厚度优化计算第29-31页
    3.4 NaI闪烁体布局优化计算第31-34页
    3.5 系统探测效率空间均匀性研究第34-38页
        3.5.1 测量腔轴向效率均匀性问题第35-36页
        3.5.2 测量腔径向效率均匀性问题第36-38页
    3.6 本章小结第38-39页
第四章 测量系统关键指标验证第39-52页
    4.1 实验条件与方法第39-44页
        4.1.1 实验仪器简介第39页
        4.1.2 ~(152)Eu放射源第39-40页
        4.1.3 实验方法第40-44页
            4.1.3.1 能量刻度第40-41页
            4.1.3.2 屏蔽能力验证第41页
            4.1.3.3 系统本底评估第41-42页
            4.1.3.4 探测限验证第42-44页
    4.2 实验结果与讨论第44-51页
        4.2.1 系统环境辐射屏蔽效果第44-46页
            4.2.1.1 NaI探测器能量刻度结果第44-45页
            4.2.1.2 铅屏蔽效果验证第45-46页
        4.2.2 系统比活度探测水平验证第46-51页
            4.2.2.1 系统本底实验评估第46-48页
            4.2.2.2 系统最小可探测活度理论估算第48-49页
            4.2.2.3 系统最小可探测活度实验验证第49-51页
    4.3 本章小结第51-52页
第五章 结论与展望第52-53页
    5.1 初步研究结果第52页
    5.2 下步工作展望第52-53页
致谢第53-54页
参考文献第54-57页
硕士期间取得学术成果第57页
参加学术活动第57页

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