| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 引言 | 第13-15页 |
| 1 绪论 | 第15-23页 |
| 1.1 问题的来源及其发展 | 第15-19页 |
| 1.1.1 正态分布问题的来源及发展 | 第15-17页 |
| 1.1.2 Overlap Coefficient方法 | 第17页 |
| 1.1.3 双参数指数分布问题的来源及研究现状 | 第17-19页 |
| 1.2 基本知识 | 第19-21页 |
| 1.2.1 定义 | 第19-20页 |
| 1.2.2 基本引理 | 第20-21页 |
| 1.3 文章的主要内容及结构 | 第21-23页 |
| 2 两正态分布相等的似然比检验 | 第23-40页 |
| 2.1 一个均值已知的两正态分布相等的似然比检验 | 第23-30页 |
| 2.1.1 似然比检验统计量 | 第24-26页 |
| 2.1.2 似然比检验统计量的精确分布 | 第26-29页 |
| 2.1.3 似然比检验统计量的第一类错误及功效检验 | 第29-30页 |
| 2.2 一个方差已知的两个正态分布相等的似然比检验 | 第30-40页 |
| 2.2.1 似然比检验量 | 第31-34页 |
| 2.2.2 似然比统计量的精确零分布 | 第34-36页 |
| 2.2.3 似然比检验统计量第一类错误及功效检验 | 第36-40页 |
| 3 两双参数指数分布相等的Overlap Coefficient检验 | 第40-54页 |
| 3.1 Overlap Coefficient统计量及估计 | 第40-43页 |
| 3.2 估计的性质及定理 | 第43-48页 |
| 3.3 模拟分析 | 第48-53页 |
| 3.3.1 真实值与估计值比较 | 第48-49页 |
| 3.3.2 估计值抽样分布 | 第49-50页 |
| 3.3.3 置信区间 | 第50-52页 |
| 3.3.4 均方误差 | 第52-53页 |
| 3.4 应用分析 | 第53-54页 |
| 结论 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-61页 |
| 附录A 关于ρ,λ,△的关于μ_1,μ_2,θ_1,θ_2的偏导数求解 | 第61-64页 |
| 附录B 程序 | 第64-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 作者简介及读研期间主要科研成果 | 第78页 |
