摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-8页 |
第1章 前言 | 第12-26页 |
1.1 研究背景和意义 | 第12页 |
1.2 热电材料基本理论 | 第12-17页 |
1.2.1 热电转换原理 | 第12-14页 |
1.2.2 热电性能参数 | 第14-16页 |
1.2.3 提高材料热电性能的途径 | 第16-17页 |
1.3 低维热电材料 | 第17-22页 |
1.3.1 低维热电材料研究进展 | 第17-19页 |
1.3.2 纳米线的合成方法及研究进展 | 第19-22页 |
1.4 聚3,4-乙撑二氧噻吩热电材料 | 第22-24页 |
1.4.1 聚3,4-乙撑二氧噻吩基本特性 | 第22-23页 |
1.4.2 聚3,4-乙撑二氧噻吩/无机纳米复合热电材料研究进展 | 第23-24页 |
1.5 本文的研究思路和主要内容 | 第24-26页 |
第2章 Bi纳米线的制备与表征 | 第26-37页 |
2.1 引言 | 第26页 |
2.2 实验部分 | 第26-28页 |
2.2.1 化学试剂 | 第26-27页 |
2.2.2 表征方法 | 第27页 |
2.2.3 实验步骤 | 第27-28页 |
2.3 结果与讨论 | 第28-36页 |
2.3.1 温度对产物的影响 | 第28-30页 |
2.3.2 还原剂对产物的影响 | 第30-31页 |
2.3.3 晶种对产物形貌的影响 | 第31-32页 |
2.3.4 Bi晶种的TEM分析 | 第32-33页 |
2.3.5 单根Bi纳米线的TEM分析 | 第33页 |
2.3.6 Bi纳米线的生长过程 | 第33-35页 |
2.3.7 Bi纳米线的生长机制 | 第35-36页 |
2.4 本章小结 | 第36-37页 |
第3章 Te纳米线的制备与表征 | 第37-47页 |
3.1 引言 | 第37页 |
3.2 实验部分 | 第37-38页 |
3.2.1 化学试剂 | 第37-38页 |
3.2.2 表征方法 | 第38页 |
3.2.3 实验步骤 | 第38页 |
3.3 结果与讨论 | 第38-45页 |
3.3.1 温度对产物的影响 | 第38-40页 |
3.3.2 晶种对产物形貌的影响 | 第40-41页 |
3.3.3 表面活性剂对产物形貌的影响 | 第41-42页 |
3.3.4 Te晶种的TEM分析 | 第42-43页 |
3.3.5 单根Te纳米线的TEM分析 | 第43页 |
3.3.6 Te纳米线的生长过程 | 第43-44页 |
3.3.7 Te纳米线的生长机制 | 第44-45页 |
3.4 本章小结 | 第45-47页 |
第4章 Bi_2Te_3纳米线的制备与表征 | 第47-55页 |
4.1 引言 | 第47页 |
4.2 实验部分 | 第47-48页 |
4.2.1 化学试剂 | 第47页 |
4.2.2 表征方法 | 第47-48页 |
4.2.3 实验步骤 | 第48页 |
4.3 结果与讨论 | 第48-54页 |
4.3.1 模板对产物的影响 | 第48-49页 |
4.3.2 温度对产物的影响 | 第49-51页 |
4.3.3 成分分析 | 第51页 |
4.3.4 单根Bi_2Te_3纳米线的TEM分析 | 第51-52页 |
4.3.5 Bi_2Te_3纳米线的生长过程 | 第52-53页 |
4.3.6 Bi_2Te_3纳米线的生长机制 | 第53-54页 |
4.4 本章小结 | 第54-55页 |
第5章 PEDOT:PSS/纳米线复合薄膜的制备与表征 | 第55-70页 |
5.1 引言 | 第55-56页 |
5.2 实验部分 | 第56-58页 |
5.2.1 化学试剂 | 第56页 |
5.2.2 结构表征和性能测试 | 第56-57页 |
5.2.3 实验方法 | 第57-58页 |
5.3 PEDOT:PSS/Bi纳米线复合薄膜的表征 | 第58-64页 |
5.3.1 形貌分析 | 第58页 |
5.3.2 厚度和粗糙度 | 第58-61页 |
5.3.3 红外光谱分析 | 第61-62页 |
5.3.4 电输运性能测试 | 第62-64页 |
5.4 PEDOT:PSS/Bi_2Te_3纳米线复合薄膜的表征 | 第64-69页 |
5.4.1 形貌分析 | 第64页 |
5.4.2 厚度和粗糙度 | 第64-66页 |
5.4.3 红外光谱分析 | 第66-67页 |
5.4.4 电输运性能测试 | 第67-69页 |
5.5 本章小结 | 第69-70页 |
第6章 结论 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-79页 |
致谢 | 第79-80页 |
硕士期间发表论文 | 第80页 |
论文支持项目 | 第80页 |