| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10页 |
| 1.2 近红外CCD测温仪测温精度影响因素分析 | 第10-16页 |
| 1.2.1 目前存在的问题 | 第11-14页 |
| 1.2.2 国内外研究现状 | 第14-16页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第2章 CCD传感器响应非均匀性校正研究 | 第18-36页 |
| 2.1 近红外CCD测温仪工作原理及结构 | 第18-20页 |
| 2.2 误差分析实验系统的设计与实现 | 第20-26页 |
| 2.2.1 误差分析实验系统的结构设计 | 第21-22页 |
| 2.2.2 误差分析实验系统软件实现 | 第22-26页 |
| 2.3 CCD传感器响应非均匀性校正 | 第26-34页 |
| 2.3.1 CCD传感器的工作原理 | 第26-28页 |
| 2.3.2 CCD传感器响应非均匀性产生的原因 | 第28-30页 |
| 2.3.3 CCD传感器响应非均匀性校正算法及实验验证 | 第30-34页 |
| 2.4 本章小结 | 第34-36页 |
| 第3章 光学系统非均匀性校正研究 | 第36-58页 |
| 3.1 光学系统非均匀性原因分析及数学建模 | 第36-48页 |
| 3.1.1 光学系统非均匀性产生的原因 | 第36-39页 |
| 3.1.2 渐晕系数数学模型的建立 | 第39-43页 |
| 3.1.3 光圈和焦距对渐晕系数的影响 | 第43-46页 |
| 3.1.4 渐晕系数数学模型实验验证 | 第46-48页 |
| 3.2 基于场景的渐晕系数估计算法 | 第48-57页 |
| 3.2.1 基于PSO的渐晕系数估计算法研究 | 第49-51页 |
| 3.2.2 渐晕系数估计算法效果研究 | 第51-55页 |
| 3.2.3 渐晕系数估计算法的实际应用 | 第55-57页 |
| 3.3 本章小结 | 第57-58页 |
| 第4章 测温距离对测温精度的影响研究 | 第58-68页 |
| 4.1 以距离为自变量的温度修正模型的建立 | 第58-62页 |
| 4.2 以距离为自变量的温度修正模型的实验验证 | 第62-67页 |
| 4.2.1 近红外CCD测温仪的标定实验 | 第62-65页 |
| 4.2.2 温度修正模型实验验证 | 第65-67页 |
| 4.3 本章小结 | 第67-68页 |
| 第5章 在连铸坯表面温度场测量中的应用研究 | 第68-76页 |
| 5.1 连铸坯表面温度场测量畸变 | 第68-69页 |
| 5.2 连铸坯表面温度场误差修正研究 | 第69-74页 |
| 5.2.1 两点多段校正算法的应用 | 第71-72页 |
| 5.2.2 基于PSO的渐晕系数估计算法的应用 | 第72-73页 |
| 5.2.3 以距离为自变量的温度修正模型的应用 | 第73-74页 |
| 5.3 本章小结 | 第74-76页 |
| 第6章 结论与展望 | 第76-78页 |
| 6.1 结论 | 第76页 |
| 6.2 展望 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 致谢 | 第82页 |