| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-12页 |
| 1.3 本文工作及创新点 | 第12-13页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第13-14页 |
| 第二章 相关研究及技术介绍 | 第14-26页 |
| 2.1 被动式定位技术 | 第14-19页 |
| 2.1.1 射频层析成像方法 | 第14-16页 |
| 2.1.2 影响链路几何法 | 第16-19页 |
| 2.2 聚类算法 | 第19-22页 |
| 2.2.1 K均值聚类 | 第19-20页 |
| 2.2.2 层次聚类 | 第20-21页 |
| 2.2.3 AP聚类 | 第21-22页 |
| 2.3 指纹法定位技术 | 第22-25页 |
| 2.3.1 指纹的组成 | 第23-24页 |
| 2.3.2 指纹法定位原理 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 被动式环境中的指纹法性能分析 | 第26-38页 |
| 3.1 五种指纹法匹配算法 | 第26-32页 |
| 3.1.1 K临近算法 | 第26-27页 |
| 3.1.2 支持向量机 | 第27-29页 |
| 3.1.3 随机森林 | 第29-30页 |
| 3.1.4 朴素贝叶斯分类 | 第30-31页 |
| 3.1.5 线性判别分析 | 第31-32页 |
| 3.2 RFID场景下的被动式仿真环境建立 | 第32-34页 |
| 3.3 五种匹配算法在RFID被动式场景中的性能对比 | 第34-37页 |
| 3.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 RFID场景下的多目标指纹法被动式定位算法 | 第38-46页 |
| 4.1 多目标定位指纹库问题分析 | 第38-39页 |
| 4.2 目标影响环境中链路RSS值的分析 | 第39-41页 |
| 4.2.1 不同目标个数对链路RSS值的影响的分析 | 第39-40页 |
| 4.2.2 多目标影响链路集分析 | 第40-41页 |
| 4.3 链路相关性 | 第41-42页 |
| 4.4 使用层次聚类对影响链路集聚类 | 第42-43页 |
| 4.5 多目标定位 | 第43页 |
| 4.6 仿真与定位结果分析 | 第43-46页 |
| 4.6.1 仿真场景设定与对比算法选取 | 第43页 |
| 4.6.2 目标个数估计的仿真结果 | 第43-44页 |
| 4.6.3 定位精度仿真结果 | 第44-46页 |
| 第五章 总结与展望 | 第46-48页 |
| 5.1 全文总结 | 第46-47页 |
| 5.2 未来研究展望 | 第47-48页 |
| 5.2.1 关于目标的影响链路集的后续研究 | 第47页 |
| 5.2.2 关于还原单目标影响链路集的后续研究 | 第47页 |
| 5.2.3 单目标匹配时的指纹处理研究 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-56页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第56-58页 |
| 发表的论文 | 第56页 |
| 申请及已获得的专利 | 第56页 |
| 参与的科研项目 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58页 |
