| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| abstract | 第9-10页 |
| 第一章 引言 | 第16-28页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第16-20页 |
| 1.1.1 微处理器的发展 | 第16-18页 |
| 1.1.2 微处理器的可靠性研究 | 第18-19页 |
| 1.1.3 研究目的及意义 | 第19-20页 |
| 1.2 软错误的理论基础 | 第20-23页 |
| 1.2.1 辐射环境 | 第20-21页 |
| 1.2.2 软错误的产生机理 | 第21-23页 |
| 1.3 故障注入方法的研究现状 | 第23-25页 |
| 1.4 本文的主要研究工作 | 第25页 |
| 1.5 本文的组织结构 | 第25-28页 |
| 第二章 FPGA基本知识及相关介绍 | 第28-39页 |
| 2.1 FPGA基本知识介绍 | 第28-34页 |
| 2.1.1 FPGA的内部结构 | 第28-31页 |
| 2.1.2 FPGA的工作原理 | 第31-32页 |
| 2.1.3 XilinxFPGA介绍 | 第32-34页 |
| 2.2 开发环境及流程 | 第34-38页 |
| 2.2.1 开发环境 | 第34-35页 |
| 2.2.2 开发流程 | 第35-38页 |
| 2.3 本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 基于FPGA的微处理器SEU软错误评估方法 | 第39-57页 |
| 3.1 PIC16F54的设计 | 第39-50页 |
| 3.1.1 总体结构 | 第39-40页 |
| 3.1.2 ALU模块设计 | 第40-43页 |
| 3.1.3 Decoder模块设计 | 第43-45页 |
| 3.1.4 Reg模块设计 | 第45-47页 |
| 3.1.5 Seqnc模块设计 | 第47-48页 |
| 3.1.6 Stack模块设计 | 第48页 |
| 3.1.7 PIC16F54模块设计 | 第48-49页 |
| 3.1.8 PIC16F54的验证 | 第49-50页 |
| 3.2 故障注入与评估平台 | 第50-56页 |
| 3.2.1 故障注入点 | 第50页 |
| 3.2.2 SEU故障注入模型 | 第50-51页 |
| 3.2.3 平台框图 | 第51-53页 |
| 3.2.4 故障管理器 | 第53页 |
| 3.2.5 故障列表 | 第53-54页 |
| 3.2.6 微处理器的修改 | 第54-55页 |
| 3.2.7 评估速度 | 第55-56页 |
| 3.3 本章小结 | 第56-57页 |
| 第四章 基于FPGA的微处理器SET软错误评估方法 | 第57-67页 |
| 4.1 相关介绍 | 第57-61页 |
| 4.1.1 故障注入点 | 第57页 |
| 4.1.2 传输量化模型 | 第57-59页 |
| 4.1.3 SET故障注入模型 | 第59-60页 |
| 4.1.4 效果分类 | 第60-61页 |
| 4.2 故障注入与评估平台 | 第61-63页 |
| 4.2.1 平台框图 | 第61页 |
| 4.2.2 故障管理器 | 第61-62页 |
| 4.2.3 MicroBlaze软核 | 第62-63页 |
| 4.3 实验结果与分析 | 第63-66页 |
| 4.3.1 实验环境 | 第63页 |
| 4.3.2 敏感性评估 | 第63-66页 |
| 4.3.3 评估速度 | 第66页 |
| 4.4 本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 5.1 本文内容总结 | 第67-68页 |
| 5.2 下一步研究方向 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-74页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第74-75页 |