| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-18页 |
| 1.1 课题的研究背景和意义 | 第9-11页 |
| 1.2 RCC材料涂层测厚的研究进展和现状 | 第11-13页 |
| 1.3 EMT技术的研究进展和现状 | 第13-16页 |
| 1.4 课题结构安排 | 第16-18页 |
| 第2章 EMT法的理论基础 | 第18-31页 |
| 2.1 EMT法的数学基础 | 第18-20页 |
| 2.1.1 Rondon变换 | 第18-19页 |
| 2.1.2 Rondon逆变换 | 第19-20页 |
| 2.2 EMT系统的基本结构与等效电路 | 第20-22页 |
| 2.2.1 EMT基本结构 | 第20-21页 |
| 2.2.2 EMT系统等效电路 | 第21-22页 |
| 2.3 EMT的正问题与逆问题 | 第22-24页 |
| 2.3.1 EMT正问题 | 第23-24页 |
| 2.3.2 EMT逆问题 | 第24页 |
| 2.4 EMT法的图像评价及反演算法 | 第24-30页 |
| 2.4.1 电磁层析成像的重建算法 | 第25-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 RCC材料涂层测厚的涡流场-路耦合模型和计算方法 | 第31-46页 |
| 3.1 EMT法的电磁场数值计算理论基础 | 第31-34页 |
| 3.1.1 麦克斯韦方程 | 第31-33页 |
| 3.1.2 EMT中感应电压的计算 | 第33-34页 |
| 3.2 三维涡流场-路耦合数学模型 | 第34-38页 |
| 3.2.1 A-ф法的涡流场求解 | 第35-36页 |
| 3.2.2 三维涡流场分析的数学模型 | 第36-37页 |
| 3.2.3 涡流线圈电路约束方程 | 第37-38页 |
| 3.2.4 基于线圈磁链的涡流场-路直接耦合法 | 第38页 |
| 3.3 三维涡流场-路耦合有限元模型及实现 | 第38-45页 |
| 3.3.1 有限元模型及实现 | 第39-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 RCC材料涂层测厚的EMT法有限元仿真 | 第46-62页 |
| 4.1 RCC材料涂层测厚的EMT法有限元模型建立 | 第46-48页 |
| 4.2 RCC基体材料电磁特性影响的仿真研究 | 第48-51页 |
| 4.2.1 单向RCC基体材料 | 第48-50页 |
| 4.2.2 双向RCC基体材料 | 第50-51页 |
| 4.3 RCC材料涂层厚度和基体特性影响的仿真研究 | 第51-60页 |
| 4.3.1 基体均匀电磁特性的RCC材料 | 第52-54页 |
| 4.3.2 基体非均匀电磁特性的RCC材料 | 第54-58页 |
| 4.3.3 分析和讨论 | 第58-60页 |
| 4.4 本章小结 | 第60-62页 |
| 第5章 结论与展望 | 第62-64页 |
| 5.1 主要研究结论 | 第62页 |
| 5.2 展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
