| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第13-32页 |
| 1.1 引言 | 第13-15页 |
| 1.2 有机电致发光二极管的工作原理 | 第15-20页 |
| 1.2.1 载流子注入 | 第16-17页 |
| 1.2.2 载流子传输 | 第17-18页 |
| 1.2.3 载流子复合形成激子 | 第18-19页 |
| 1.2.4 激子的扩散 | 第19页 |
| 1.2.5 激子的辐射跃迁 | 第19-20页 |
| 1.3 器件结构 | 第20-24页 |
| 1.3.1 单层器件结构 | 第21页 |
| 1.3.2 双层器件结构 | 第21-22页 |
| 1.3.3 三层器件结构 | 第22-23页 |
| 1.3.4 多层器件结构 | 第23-24页 |
| 1.4 有机电致发光材料 | 第24-29页 |
| 1.4.1 小分子荧光材料 | 第25-27页 |
| 1.4.2 小分子磷光材料 | 第27-29页 |
| 1.5 本论文主要研究内容及创新性 | 第29-32页 |
| 1.5.1 研究课题的提出 | 第29-30页 |
| 1.5.2 本论文的创新性 | 第30-32页 |
| 第二章 有机电致发光器件的老化曲线模型 | 第32-42页 |
| 2.1 简介 | 第32-33页 |
| 2.2 亮度衰减曲线模型 | 第33-37页 |
| 2.3 电压上升曲线模型 | 第37-38页 |
| 2.4 温度对OLED老化的影响 | 第38-42页 |
| 2.4.1 加速老化 | 第38-39页 |
| 2.4.2 OLED的热效应 | 第39-40页 |
| 2.4.3 库仑老化和热老化 | 第40-42页 |
| 第三章 有机电致发光器件的老化机理 | 第42-62页 |
| 3.1 简介 | 第42页 |
| 3.2 非本质老化(extrinsic degradation) | 第42-45页 |
| 3.2.1.黑点的形成 | 第43-44页 |
| 3.2.2 短路 | 第44-45页 |
| 3.3 本质老化(intrinsic degradation) | 第45-62页 |
| 3.3.1 界面老化 | 第45-56页 |
| 3.3.2 本体老化 | 第56-62页 |
| 第四章 基于虚拟仪器技术的512路OLED寿命测试系统 | 第62-93页 |
| 4.1 虚拟仪器技术概述 | 第62-64页 |
| 4.2 系统架构设计 | 第64-69页 |
| 4.2.1 控制系统 | 第65-66页 |
| 4.2.2 OLED电源模块 | 第66-67页 |
| 4.2.3 OLED数据采集模块 | 第67-68页 |
| 4.2.4 光电转换模块 | 第68-69页 |
| 4.3 系统外观设计 | 第69-71页 |
| 4.3.1 人性化的系统架构 | 第69-70页 |
| 4.3.2 新颖的器件测试盒 | 第70页 |
| 4.3.3 分立式的机柜架构 | 第70-71页 |
| 4.4 软件界面开发 | 第71-90页 |
| 4.4.1 软件设计需求 | 第71-90页 |
| 4.5 器件性能测试 | 第90-92页 |
| 4.6 本章小结 | 第92-93页 |
| 第五章 OLED老化曲线及老化机理研究 | 第93-115页 |
| 5.1 引言 | 第93-94页 |
| 5.2 恒亮度驱动下的OLED老化曲线及机理分析 | 第94-106页 |
| 5.2.1 器件制备 | 第94-95页 |
| 5.2.2 恒亮度老化曲线分析 | 第95-101页 |
| 5.2.3 恒亮度老化机理研究 | 第101-106页 |
| 5.3 温度对OLED老化的影响 | 第106-111页 |
| 5.3.1 低温下恒流老化曲线分析 | 第106-109页 |
| 5.3.2 低温下恒流老化机理研究 | 第109-111页 |
| 5.4 恒流、恒压、恒亮度的比较 | 第111-113页 |
| 5.5 本章小结 | 第113-115页 |
| 结论 | 第115-117页 |
| 参考文献 | 第117-125页 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第125-127页 |
| 致谢 | 第127-128页 |
| Ⅳ-2 答辩委员会对论文的评定意见 | 第128页 |
