基于嵌入修改位置的图像隐写与隐写分析技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-25页 |
| 1.1 研究的背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 信息隐藏技术概述 | 第13-17页 |
| 1.2.1 信息隐藏技术发展历史 | 第13-14页 |
| 1.2.2 信息隐藏技术原理 | 第14-15页 |
| 1.2.3 信息隐藏技术分类 | 第15-16页 |
| 1.2.4 信息隐藏技术评价指标 | 第16-17页 |
| 1.3 图像数字隐写技术发展现状 | 第17-21页 |
| 1.4 图像隐写分析技术发展现状 | 第21-22页 |
| 1.5 本文的主要工作及内容安排 | 第22-25页 |
| 第2章 基础算法介绍 | 第25-34页 |
| 2.1 最低有效位替换隐写算法 | 第25-26页 |
| 2.2 最小化失真隐写 | 第26-28页 |
| 2.2.1 失真函数的概念 | 第26-27页 |
| 2.2.2 嵌入改变的代价 | 第27-28页 |
| 2.2.3 STC隐写编码技术 | 第28页 |
| 2.3 基于邻域差分的隐写分析技术 | 第28-33页 |
| 2.3.1 基于邻域差分的隐写分析特征值 | 第29-32页 |
| 2.3.2 自适应SRM隐写分析方法 | 第32-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 改进的WOW自适应图像隐写方法 | 第34-44页 |
| 3.1 概述 | 第34-35页 |
| 3.2 WOW自适应隐写算法 | 第35-36页 |
| 3.4 改进的WOW自适应隐写方法 | 第36-38页 |
| 3.5 实验结果分析 | 第38-43页 |
| 3.5.1 嵌入改变位置的区别 | 第38-40页 |
| 3.5.2 抗统计检测的结果对比 | 第40-43页 |
| 3.6 本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 彩色图像自适应隐写分析方法研究 | 第44-56页 |
| 4.1 概述 | 第44页 |
| 4.2 针对彩色图像的SCRM隐写分析算法 | 第44-46页 |
| 4.3 针对彩色图像的自适应隐写分析方法 | 第46-50页 |
| 4.4 实验结果分析 | 第50-54页 |
| 4.4.1 实验设置 | 第50页 |
| 4.4.2 参数t对定位到嵌入改变位置的影响 | 第50-51页 |
| 4.4.3 与其它隐写分析算法检测准确率的对比 | 第51-54页 |
| 4.5 本章小结 | 第54-56页 |
| 结论 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-63页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第63-64页 |
| 附录B 攻读学位期间所参与的项目目录 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
