| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| 1.1 国外的发展 | 第8页 |
| 1.2 国内的发展 | 第8-10页 |
| 1.2.1 国内标准的发展 | 第8-9页 |
| 1.2.2 自复式过欠电压保护器的发展 | 第9页 |
| 1.2.3 自复式过欠电压保护器的国内应用现状 | 第9-10页 |
| 1.2.4 自复式过欠电压保护器存在的问题 | 第10页 |
| 1.3 本文主要的研究内容 | 第10-11页 |
| 第二章 三相负载、中性线对单相电压的影响 | 第11-19页 |
| 2.1 三相负载变化对中性线电流及单相电压的影响 | 第11-13页 |
| 2.1.1 三相负载对称时对中性线电流及单相电压的影响 | 第11-12页 |
| 2.1.2 三相负载不对称时对中性线电流及单相电压的影响 | 第12-13页 |
| 2.2 三相负载不对称时对中性线电位的影响 | 第13-14页 |
| 2.3 中性线断线对单相电压的影响 | 第14-16页 |
| 2.3.1 案例分析 | 第15-16页 |
| 2.4 自复式过欠电压保护器的引入 | 第16页 |
| 2.5 自复式过欠电压保护器的基本要求 | 第16-19页 |
| 2.5.1 自复式过欠电压保护器整定值的设定 | 第17-18页 |
| 2.5.2 自复式过欠电压保护器的原理 | 第18-19页 |
| 第三章 SAGQ型自复式过欠电压保护器的问题分析 | 第19-29页 |
| 3.1 SAGQ型自复式过欠电压保护器的分析 | 第19-20页 |
| 3.1.1 SAGQ自复式过欠电压保护器在单相线路的安装位置 | 第19-20页 |
| 3.1.2 取样电路的分析 | 第20页 |
| 3.1.3 比较电路的分析 | 第20页 |
| 3.1.4 执行电路的分析 | 第20页 |
| 3.2 存在问题的分析 | 第20-27页 |
| 3.2.1 取样电路的问题分析 | 第22-23页 |
| 3.2.2 导通角的问题分析 | 第23-27页 |
| 3.2.3 电源电路及整定值的问题分析 | 第27页 |
| 3.3 其它产品的性能分析 | 第27-28页 |
| 3.4 小结 | 第28-29页 |
| 第四章 解决问题的硬件技术方案 | 第29-33页 |
| 4.1 取样电路的改进 | 第29-30页 |
| 4.1.1 取样电路的工作原理 | 第29页 |
| 4.1.2 新取样电路的特点 | 第29-30页 |
| 4.2 电源电路的改进 | 第30-31页 |
| 4.2.1 电源电路的工作原理 | 第30页 |
| 4.2.2 新电源电路的特点 | 第30-31页 |
| 4.3 改进后的自复式过欠电压保护器的电路 | 第31-33页 |
| 4.3.1 电路的工作原理 | 第32页 |
| 4.3.2 改进电路的特点 | 第32-33页 |
| 第五章 自复式过欠电压保护器的软件设计 | 第33-38页 |
| 5.1 分段函数的描述 | 第33页 |
| 5.2 分段到布尔的转换 | 第33-36页 |
| 5.3 布尔算法实现的自复式过欠电压保护器流程 | 第36-38页 |
| 第六章 自复式过欠电压保护器的测试 | 第38-47页 |
| 6.1 原自复式过欠电压保护器的测试 | 第38-40页 |
| 6.2 新自复式过欠电压保护器的测试 | 第40-46页 |
| 6.2.1 电源实验报告 | 第40-42页 |
| 6.2.2 取样实验报告 | 第42-44页 |
| 6.2.3 综合测试报告 | 第44-46页 |
| 6.3 原产品与改进后产品的比较 | 第46-47页 |
| 第七章 全文总结与工作展望 | 第47-49页 |
| 7.1 全文总结 | 第47页 |
| 7.2 工作展望 | 第47-48页 |
| 7.3 建议 | 第48页 |
| 7.4 不足 | 第48-49页 |
| 附录 | 第49-53页 |
| 附录1 部分程序 | 第49-51页 |
| 附录2 软硬件协同设计 | 第51页 |
| 附录3 相关附图 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 作者简介 | 第56页 |
