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不同组合频率下使用大气压冷等离子体射流(APPJ)沉积氧化硅薄膜

摘要第8-9页
Abstract第9-10页
第一章 绪论第11-19页
    1.1 引言第11页
    1.2 实验室中产生等离子体的主要方法第11-12页
    1.3 双频驱动的大气压冷等离子体射流第12-13页
    1.4 等离子体增强化学气相沉积(PECVD)第13-14页
    1.5 氧化硅薄膜及其常用制备方法第14-15页
    1.6 本论文主要研究内容第15-16页
    参考文献第16-19页
第二章 实验及其测试第19-25页
    2.1 引言第19页
    2.2 实验设备第19-20页
    2.3 Antoine公式第20页
    2.4 等离子体光谱诊断技术第20-22页
    2.5 薄膜的检测技术第22-24页
        2.5.1 薄膜形态第22页
        2.5.2 薄膜化学成分及结构第22-23页
        2.5.3 薄膜结晶状态第23-24页
    参考文献第24-25页
第三章 双频驱动的大气压冷等离子体射流沉积氧化硅薄膜第25-41页
    3.1 引言第25-26页
    3.2 氧化硅薄膜的制备第26-32页
        3.2.1 等离子体发射光谱第26-27页
        3.2.2 沉积条件的优化第27-28页
        3.2.3 薄膜的表征第28-32页
    3.3 不同组合频率对氧化硅薄膜制备的影响第32-35页
        3.3.1 等离子体发射光谱第32-33页
        3.3.2 薄膜的表征第33-35页
    3.4 本章小结第35-37页
    参考文献第37-41页
第四章 总结与展望第41-42页
    4.1 本文主要结论第41页
    4.2 未来工作计划第41-42页
附录: 硕士学位期间发表论文情况第42-43页
致谢第43页

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