| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第11-15页 |
| 1.1 主处理模块概述 | 第11页 |
| 1.2 AVR 处理器简介 | 第11-13页 |
| 1.3 主处理模块现状 | 第13-14页 |
| 1.4 论文的组织结构 | 第14页 |
| 1.5 论文的主要工作 | 第14-15页 |
| 第二章 ARM 微处理器结构和AT91RM9200 性能特点 | 第15-22页 |
| 2.1 ARM 概述 | 第15-18页 |
| 2.1.1 ARM 简介 | 第15-16页 |
| 2.1.2 ARM 微处理器结构 | 第16-17页 |
| 2.1.3 ARM 微处理器的应用选型 | 第17-18页 |
| 2.2 AT91RM9200 处理器介绍 | 第18-19页 |
| 2.3 AT91RM9200 与AVR MEGA128 的比较 | 第19-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 基于AT91RM9200 的主处理模块的设计方案 | 第22-28页 |
| 3.1 综合控制单元的结构划分 | 第22-23页 |
| 3.2 主处理模块的设计要求 | 第23-24页 |
| 3.2.1 功能需求 | 第23页 |
| 3.2.2 技术指标 | 第23页 |
| 3.2.3 接口特性 | 第23-24页 |
| 3.3 模块的设计方案 | 第24-25页 |
| 3.3.1 模块的组成原理框图 | 第24-25页 |
| 3.3.2 模块的软件设计规划 | 第25页 |
| 3.4 设计原则 | 第25-27页 |
| 3.4.1 小型化和低功耗原则 | 第26页 |
| 3.4.2 电路可靠性原则 | 第26-27页 |
| 3.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第四章 基于AT91RM9200 的主处理模块的硬件电路设计 | 第28-41页 |
| 4.1 AT91RM9200 处理器的配置和管理电路 | 第28-30页 |
| 4.1.1 处理器上电启动模式设计 | 第28页 |
| 4.1.2 时钟电路 | 第28-29页 |
| 4.1.3 可编程逻辑电路 | 第29页 |
| 4.1.4 复位电路 | 第29-30页 |
| 4.2 存储器访问控制电路 | 第30-34页 |
| 4.2.1 SDRAM 存储器访问电路 | 第31页 |
| 4.2.2 FLASH 存储器电路 | 第31-32页 |
| 4.2.3 NVRAM 存储器电路 | 第32页 |
| 4.2.4 外部存储空间访问电路 | 第32-34页 |
| 4.2.5 总线等待状态保持信号 | 第34页 |
| 4.2.6 本节小结 | 第34页 |
| 4.3 外部接口电路 | 第34-37页 |
| 4.3.1 RS422 通信电路 | 第34-35页 |
| 4.3.2 离散量输入输出电电路 | 第35-36页 |
| 4.3.3 本节小结 | 第36-37页 |
| 4.4 调试电路 | 第37-40页 |
| 4.4.1 JTAG 调试电路 | 第37-38页 |
| 4.4.2 以太网电路 | 第38页 |
| 4.4.3 RS232 调试接口电路 | 第38页 |
| 4.4.4 本节小结 | 第38-40页 |
| 4.5 电源电路 | 第40页 |
| 4.6 本章小结 | 第40-41页 |
| 第五章 模块的软件组成以及操作系统的移植 | 第41-51页 |
| 5.1 模块的软件组成 | 第41-42页 |
| 5.2 VXWORKS 操作系统简介 | 第42-45页 |
| 5.2.1 操作VxWorks 操作系统的特点 | 第42-43页 |
| 5.2.2 BSP 概念 | 第43页 |
| 5.2.3 VxWorks 的引导过程 | 第43-45页 |
| 5.3 BSP 中几个重要文件的修改[17] | 第45-50页 |
| 5.3.1 修改Makeflie | 第46页 |
| 5.3.2 修改Config.h | 第46-47页 |
| 5.3.3 修改integrator920t.h | 第47页 |
| 5.3.4 修改rominit.s | 第47页 |
| 5.3.5 修改sysLib c | 第47-48页 |
| 5.3.6 修改Syslib.s | 第48-49页 |
| 5.3.7 修改Configall.c | 第49-50页 |
| 5.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第六章 主处理模块的调试和测试 | 第51-66页 |
| 6.1 电源电路的检测 | 第51页 |
| 6.2 处理器的配置电路的调试与测试 | 第51-54页 |
| 6.2.1 JTAG 电路 | 第51页 |
| 6.2.2 复位电路 | 第51-52页 |
| 6.2.3 时钟电路 | 第52-54页 |
| 6.3 存储器电路的调试与测试 | 第54-61页 |
| 6.3.1 SDRAM 电路 | 第55-57页 |
| 6.3.2 FLASH 电路 | 第57-59页 |
| 6.3.3 NVRAM 电路 | 第59-60页 |
| 6.3.4 外总线电路 | 第60-61页 |
| 6.3.5 总线保持电路 | 第61页 |
| 6.4 调试通道的调试与测试 | 第61-63页 |
| 6.4.1 RS232 调试通道 | 第61-62页 |
| 6.4.2 以太网调试通道 | 第62-63页 |
| 6.5 外部接口电路的调试与测试 | 第63-65页 |
| 6.5.1 RS422 通信电路 | 第63-64页 |
| 6.5.2 离散量接口电路 | 第64页 |
| 6.5.3 程序状态控制电路 | 第64-65页 |
| 6.6 本章小结 | 第65-66页 |
| 第七章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 7.1 主要结论 | 第66-67页 |
| 7.2 展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 攻读硕士学位期间已录用的论文 | 第70页 |
