| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第14-30页 |
| 1.1 纳米线概述 | 第14页 |
| 1.2 纳米银线概述 | 第14-18页 |
| 1.2.1 纳米银的性质和应用 | 第14页 |
| 1.2.2 纳米银线的应用 | 第14-15页 |
| 1.2.3 纳米银线的制备方法 | 第15-18页 |
| 1.3 基于纳米银线的透明导电薄膜的制备 | 第18-21页 |
| 1.3.1 透明导电薄膜的概述 | 第18页 |
| 1.3.2 基于纳米银线的透明导电薄膜 | 第18-21页 |
| 1.4 基于静电纺丝技术的纳米银线透明导电薄膜的制备 | 第21-23页 |
| 1.4.1 静电纺丝技术 | 第21-22页 |
| 1.4.2 静电纺丝机装置 | 第22页 |
| 1.4.3 静电纺丝的工作原理 | 第22-23页 |
| 1.4.4 静电纺丝中射流的形成 | 第23页 |
| 1.5 基于银基电路图形的光打印技术的制备与应用 | 第23-26页 |
| 1.5.1 电路图形的应用 | 第23-24页 |
| 1.5.2 电路图形制备的常用方法 | 第24-26页 |
| 1.6 光打印法制备银基电路图形 | 第26-27页 |
| 1.6.1 紫外激光固化装置 | 第26-27页 |
| 1.6.2 紫外激光固化技术 | 第27页 |
| 1.7 本文研究的目的、内容和创新点 | 第27-30页 |
| 1.7.1 研究意义与目的 | 第27-28页 |
| 1.7.2 研究内容 | 第28页 |
| 1.7.3 研究创新点 | 第28-30页 |
| 第二章 纳米银线的制备与研究 | 第30-44页 |
| 2.1 引言 | 第30页 |
| 2.2 实验部分 | 第30-32页 |
| 2.2.1 试验试剂与设备 | 第30-31页 |
| 2.2.2 纳米银线的制备实验 | 第31-32页 |
| 2.3 实验结果与分析 | 第32-42页 |
| 2.3.1 纳米银线的形成过程 | 第33-35页 |
| 2.3.2 反应温度的影响 | 第35-37页 |
| 2.3.3 反应气体氛围的影响 | 第37页 |
| 2.3.4 引入不同控制剂的影响 | 第37-40页 |
| 2.3.5 控制剂FeCl3·6H2O含量的影响 | 第40-42页 |
| 2.4 本章小结 | 第42-44页 |
| 第三章 纳米银线透明导电薄膜的制备与研究 | 第44-52页 |
| 3.1 引言 | 第44页 |
| 3.2 实验部分 | 第44-46页 |
| 3.2.1 实验试剂与仪器 | 第44-45页 |
| 3.2.2 实验过程 | 第45页 |
| 3.2.3 正交试验表的设计 | 第45-46页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第46-49页 |
| 3.3.1 薄膜制备思路与透明导电原理 | 第46-47页 |
| 3.3.2 树脂对纳米银线透明导电薄膜品质的影响 | 第47页 |
| 3.3.3 热压温度对纳米银线透明导电薄膜的性能影响 | 第47-48页 |
| 3.3.4 纳米银线透明导电薄膜的表面形貌 | 第48-49页 |
| 3.4 本章小结 | 第49-52页 |
| 第四章 静电纺丝法制备银透明导电薄膜 | 第52-68页 |
| 4.1 引言 | 第52页 |
| 4.2 实验部分 | 第52-54页 |
| 4.2.1 实验试剂与仪器 | 第52-53页 |
| 4.2.2 试验流程 | 第53-54页 |
| 4.3 试验过程现象分析 | 第54-56页 |
| 4.3.1 纺丝液配制过程 | 第54-55页 |
| 4.3.2 静电纺丝过程 | 第55页 |
| 4.3.3 纳米银线生长化学反应过程 | 第55页 |
| 4.3.4 银生长前后静电纺丝线表面的变化 | 第55-56页 |
| 4.4 实验结果与讨论 | 第56-65页 |
| 4.4.1 刮涂不同疏水层对纺丝线形貌的影响 | 第56-57页 |
| 4.4.2 纺丝分散液中SAN不同浓度对透明导电薄膜的影响 | 第57-60页 |
| 4.4.3 纺丝时间对透明导电薄膜的影响 | 第60-63页 |
| 4.4.4 透明导电薄膜的X射线能谱（EDS）分析 | 第63-64页 |
| 4.4.5 透明导电薄膜的X射线衍射（XRD）分析 | 第64-65页 |
| 4.5 本章小结 | 第65-68页 |
| 第五章 紫外激光打印技术制备银基电路图形 | 第68-80页 |
| 5.1 引言 | 第68页 |
| 5.2 实验内容 | 第68-70页 |
| 5.2.1 实验试剂与仪器 | 第68-69页 |
| 5.2.2 实验过程 | 第69-70页 |
| 5.3 结果与讨论 | 第70-77页 |
| 5.3.1 紫外光束的功率和扫描速度对导电图形线宽度的影响 | 第70-73页 |
| 5.3.2 热压温度对纳米银线电路图形导电性能的影响 | 第73-77页 |
| 5.3.3 纳米银线电路图形微观形貌讨论 | 第77页 |
| 5.4 本章小结 | 第77-80页 |
| 第六章 结论与展望 | 第80-82页 |
| 6.1 总结 | 第80-81页 |
| 6.2 未来展望 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-88页 |
| 致谢 | 第88-90页 |
| 研究成果及发表的学术论文 | 第90-92页 |
| 作者及导师简介 | 第92-93页 |
