基于PCI总线的飞行控制计算机通用测试设备
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第12-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第12页 |
| 1.2 国内研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 课题研究目的及意义 | 第13页 |
| 1.3.1 研究目的 | 第13页 |
| 1.3.2 研究意义 | 第13页 |
| 1.4 论文结构 | 第13-16页 |
| 第二章 通用测试设备方案 | 第16-21页 |
| 2.1 概述 | 第16页 |
| 2.2 计算机系统结构的确定 | 第16页 |
| 2.3 通用测试设备硬件设计 | 第16-18页 |
| 2.4 通用测试设备的软件设计 | 第18-19页 |
| 2.4.1 FPGA软件 | 第18页 |
| 2.4.2 智能接口软件 | 第18页 |
| 2.4.3 测试软件 | 第18-19页 |
| 2.5 本章小结 | 第19-21页 |
| 第三章 通用测试设备硬件实现 | 第21-35页 |
| 3.1 KCOM板设计 | 第23-30页 |
| 3.1.1 中断设计 | 第24页 |
| 3.1.2 系统时钟设计 | 第24-25页 |
| 3.1.3 异步RS-422通讯接口设计 | 第25-26页 |
| 3.1.4 RS-485通讯接口设计 | 第26-27页 |
| 3.1.5 开关量输入设计 | 第27-28页 |
| 3.1.6 开关量输出设计 | 第28-29页 |
| 3.1.7 脉冲设计 | 第29-30页 |
| 3.1.8 三次电源设计 | 第30页 |
| 3.2 总线板设计 | 第30-32页 |
| 3.2.1 1553B总线设计 | 第30-31页 |
| 3.2.2 CAN总线设计 | 第31-32页 |
| 3.3 DAD板设计 | 第32-34页 |
| 3.3.1 DA输出设计 | 第32-33页 |
| 3.3.2 AD采集设计 | 第33-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 通用测试设备软件实现 | 第35-42页 |
| 4.1 FPGA软件 | 第35-37页 |
| 4.1.1 KCOM板FPGA设计 | 第35-37页 |
| 4.1.2 DAD板FPGA设计 | 第37页 |
| 4.2 智能接口软件 | 第37-38页 |
| 4.3 测试软件 | 第38-41页 |
| 4.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第五章 通用测试设备的自测试 | 第42-46页 |
| 5.1 通用测试设备自检需求如下 | 第42页 |
| 5.2 通用测试设备自检测试硬件连接方法 | 第42-43页 |
| 5.3 通用测试设备自检测试软件实现方法 | 第43-44页 |
| 5.3.1 通讯.的测试 | 第43-44页 |
| 5.3.2 系统时钟测试 | 第44页 |
| 5.3.3 DA/AD的测试 | 第44页 |
| 5.3.4 开关量的测试 | 第44页 |
| 5.3.5 脉冲测试 | 第44页 |
| 5.3.6 总线测试 | 第44页 |
| 5.4 本章小结 | 第44-46页 |
| 第六章 关键技术及风险分析 | 第46-52页 |
| 6.1 关键技术 | 第46-48页 |
| 6.1.1 开关量接口的通用 | 第46页 |
| 6.1.2 系统时钟、脉冲的通用 | 第46-47页 |
| 6.1.3 智能通讯 | 第47-48页 |
| 6.2 风险分析 | 第48-50页 |
| 6.2.1 设计风险 | 第48-49页 |
| 6.2.2 元器件风险 | 第49页 |
| 6.2.3 工艺风险 | 第49页 |
| 6.2.4 使用环境风险 | 第49-50页 |
| 6.3 本章小结 | 第50-52页 |
| 第七章 总结与展望 | 第52-54页 |
| 7.1 主要内容 | 第52页 |
| 7.2 系统特点 | 第52页 |
| 7.3 实用价值 | 第52页 |
| 7.4 工作展望 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 作者简介 | 第57-58页 |
