| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 引言 | 第10-17页 |
| 1.1 选题依据及研究意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 铁矿石中铁品位化学成分分析方法的研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 铁矿石中稀土元素分析方法研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.3 XRF法发展现状 | 第13-14页 |
| 1.3 研究内容及技术路线 | 第14-17页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第14-16页 |
| 1.3.2 技术路线 | 第16-17页 |
| 第2章X射线荧光光谱分析的基本原理 | 第17-24页 |
| 2.1 X射线与物质的相互作用 | 第17-20页 |
| 2.1.1 光电效应与X射线荧光的产生 | 第17-18页 |
| 2.1.2 X射线的散射 | 第18-20页 |
| 2.2 X射线荧光光谱的定性分析 | 第20-22页 |
| 2.2.1 莫塞莱(Moseley)定律 | 第20-21页 |
| 2.2.2 布拉格定律 | 第21-22页 |
| 2.3 X射线荧光光谱的定量分析 | 第22-24页 |
| 第3章 波长色散X射线荧光光谱定性分析 | 第24-31页 |
| 3.1 实验操作步骤 | 第24-27页 |
| 3.2 实验扫描谱图及数据分析 | 第27-31页 |
| 第4章 样品的制备及影响因素的分析 | 第31-37页 |
| 4.1 样品的制备 | 第31-33页 |
| 4.1.1 粉末压片法 | 第31-32页 |
| 4.1.2 粉末制样的影响因素 | 第32-33页 |
| 4.2 基体效应校正方法 | 第33-37页 |
| 4.2.1 经验分类法 | 第33-34页 |
| 4.2.2 增量法 | 第34-37页 |
| 第5章 实验仪器与最佳测量条件的选择 | 第37-45页 |
| 5.1 IED2000T型多元素快速分析仪 | 第37-40页 |
| 5.1.1 EDXRF 分析仪的结构 | 第37-38页 |
| 5.1.2 主要性能与技术指标 | 第38-40页 |
| 5.2 X光管最佳工作条件的选择 | 第40-45页 |
| 5.2.1 X光管原级谱 | 第40-42页 |
| 5.2.2 实验方案 | 第42-45页 |
| 第6章 测量结果与讨论 | 第45-53页 |
| 6.1 稀土元素La和Ce的测量结果 | 第45-47页 |
| 6.2 混皮样品中Fe元素的含量测定 | 第47-48页 |
| 6.3 再皮样品中Fe元素的含量测定 | 第48-50页 |
| 6.4 增量法的误差分析(La和Ce) | 第50页 |
| 6.5 方法检出限 | 第50-51页 |
| 6.6 精密度的评价 | 第51-53页 |
| 结论 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第58页 |