基于脉冲电磁原理的金属缺陷阵列成像方法研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.1.1 课题背景及来源 | 第8页 |
| 1.1.2 研究的目的及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 阵列无损检测研究研究发展现状 | 第9-15页 |
| 1.2.1 非铁磁性和铁磁性金属材料检测研究现状 | 第9-11页 |
| 1.2.2 脉冲涡流和脉冲漏磁检测研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.3 阵列检测传感器的研究现状 | 第12-15页 |
| 1.3 论文研究内容 | 第15页 |
| 1.4 论文结构编排 | 第15-17页 |
| 第二章 阵列检测理论研究 | 第17-26页 |
| 2.1 涡流检测论基础 | 第17-21页 |
| 2.1.1 涡流理论基础 | 第17页 |
| 2.1.2 涡流检测原理 | 第17-18页 |
| 2.1.3 PEC渗透深度分析 | 第18-19页 |
| 2.1.4 PEC响应信号分析 | 第19-21页 |
| 2.2 漏磁检测理论基础 | 第21-24页 |
| 2.2.1 磁感线折射 | 第21页 |
| 2.2.2 磁路及漏磁场的形成 | 第21-22页 |
| 2.2.3 漏磁检测原理 | 第22-24页 |
| 2.2.4 脉冲漏磁检测原理 | 第24页 |
| 2.3 阵列检测原理 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 有限元仿真研究 | 第26-49页 |
| 3.1 非铁磁性检测仿真研究 | 第26-38页 |
| 3.1.1 有限元模型的建立 | 第26-28页 |
| 3.1.2 检测灵敏度计算方法 | 第28-29页 |
| 3.1.3 圆柱形探头参数设计 | 第29-33页 |
| 3.1.4 线圈单元间距的影响 | 第33-36页 |
| 3.1.5 铁磁屏蔽抗干扰技术 | 第36-38页 |
| 3.2 铁磁性检测仿真研究 | 第38-47页 |
| 3.2.1 铁磁性材料独特特性 | 第38-40页 |
| 3.2.2 铁磁性材料漏磁研究 | 第40-42页 |
| 3.2.3 仿真信号分析 | 第42-43页 |
| 3.2.4 漏磁灵敏度计算方法 | 第43页 |
| 3.2.5 矩形探头参数设计 | 第43-47页 |
| 3.3 本章小结 | 第47-49页 |
| 第四章 检测实验平台的设计 | 第49-68页 |
| 4.1 检测系统的总体设计 | 第49页 |
| 4.2 硬件平台搭建 | 第49-59页 |
| 4.2.1 激励信号产生模块 | 第49-50页 |
| 4.2.2 功率放大模块 | 第50页 |
| 4.2.3 激励线圈模块 | 第50-52页 |
| 4.2.4 传感器模块 | 第52-55页 |
| 4.2.5 检测试件 | 第55-56页 |
| 4.2.7 信号调理与采集模块 | 第56-57页 |
| 4.2.8 分时复用模块 | 第57-58页 |
| 4.2.9 硬件平台集成系统 | 第58-59页 |
| 4.3 软件平台设计 | 第59-67页 |
| 4.3.1 信号采集程序 | 第59-60页 |
| 4.3.2 信号消噪软件 | 第60-61页 |
| 4.3.3 静态成像程序 | 第61-62页 |
| 4.3.4 动态成像程序 | 第62-67页 |
| 4.4 本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 实验结果分析及成像实现 | 第68-81页 |
| 5.1 阵列单元检测结果分析 | 第68-72页 |
| 5.1.1 圆柱形线圈检测结果 | 第68-69页 |
| 5.1.2 矩形线圈检测结果 | 第69-72页 |
| 5.2 非铁磁性材料缺陷成像 | 第72-76页 |
| 5.2.1 铝板试件检测静态成像 | 第72-74页 |
| 5.2.2 铝板试件检测动态成像 | 第74-76页 |
| 5.3 铁磁性材料缺陷成像 | 第76-79页 |
| 5.3.1 铁板试件检测静态成像 | 第76-78页 |
| 5.3.2 铁板试件检测动态成像 | 第78-79页 |
| 5.4 本章小结 | 第79-81页 |
| 第六章 总结与展望 | 第81-83页 |
| 6.1 总结 | 第81页 |
| 6.2 展望 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-89页 |
| 附录:作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第89页 |
