| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| ·研究背景与意义 | 第11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-14页 |
| ·单元抗辐射评估 | 第11-13页 |
| ·系统抗辐射评估 | 第13-14页 |
| ·研究思路 | 第14页 |
| ·论文组织结构 | 第14-16页 |
| 第二章 卫星电源系统原理 | 第16-25页 |
| ·电源系统功能和性能要求 | 第16-17页 |
| ·电源系统结构 | 第17-22页 |
| ·太阳电池阵 | 第17-18页 |
| ·蓄电池组 | 第18-19页 |
| ·电源控制器 | 第19-22页 |
| ·电源系统辐射损伤机理 | 第22-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 电源系统数学模型 | 第25-33页 |
| ·太阳电池阵的数学模型 | 第25-27页 |
| ·蓄电池组的数学模型 | 第27-28页 |
| ·主误差放大器（MEA）的数学模型 | 第28-29页 |
| ·充电调节器（BCR）的数学模型 | 第29-31页 |
| ·放电调节器（BDR）的数学模型 | 第31-32页 |
| ·分流调节器（S3R）的数学模型 | 第32-33页 |
| 第四章 单元辐射损伤退化建模 | 第33-47页 |
| ·太阳电池辐射损伤退化建模 | 第33-39页 |
| ·位移损伤剂量法 | 第34-35页 |
| ·辐射损伤过程建模 | 第35-36页 |
| ·建模实例 | 第36-39页 |
| ·功率MOS器件辐射损伤退化建模 | 第39-47页 |
| ·功率MOS器件辐射损伤过程 | 第39-41页 |
| ·模型参数估计 | 第41-44页 |
| ·建模实例 | 第44-47页 |
| 第五章 运用QMU方法对电源系统抗辐射性能仿真评估 | 第47-63页 |
| ·QMU基本原理 | 第47-52页 |
| ·确定性能指标和性能通道 | 第49-50页 |
| ·识别与描述不确定性 | 第50页 |
| ·阈值计算方法 | 第50-51页 |
| ·最优估计及其不确定度量化 | 第51页 |
| ·运用优良性指标，对系统性能进行认证和评估 | 第51-52页 |
| ·电源系统抗辐射性能仿真 | 第52-58页 |
| ·仿真软件结构和功能设计 | 第52-54页 |
| ·仿真软件实现 | 第54-58页 |
| ·电源系统抗辐射性能评估 | 第58-62页 |
| ·寿命初期的性能评估 | 第58-61页 |
| ·寿命末期的性能评估 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 结束语 | 第63-65页 |
| ·论文主要工作与贡献 | 第63页 |
| ·下一步研究展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第70页 |