致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-12页 |
1 引言 | 第12-21页 |
·课题研究背景及意义 | 第12-15页 |
·大功率白光 LED 简介及其发展 | 第12-13页 |
·大功率白光 LED 的实现方式 | 第13-14页 |
·检测白光 LED 结温的重要性 | 第14-15页 |
·结温检测技术的发展现状 | 第15-18页 |
·针对单颗 LED 芯片的结温检测技术的发展现状 | 第15-18页 |
·针对 LED 阵列的结温检测技术的发展现状 | 第18页 |
·课题研究目的与主要内容 | 第18-19页 |
·课题研究目的 | 第18-19页 |
·课题研究的主要内容 | 第19页 |
·本文组织结构 | 第19-21页 |
2 单颗大功率白光 LED 芯片结温光谱检测技术研究 | 第21-39页 |
·引言 | 第21页 |
·随大功率白光 LED 芯片结温变化的光谱特征值研究 | 第21-24页 |
·峰值波长偏移随结温变化理论分析 | 第24-26页 |
·大功率白光 LED 峰值波长偏移法结温检测的两个前提假设 | 第26-34页 |
·仿真验证窄脉冲驱动下环境温度近似其结温 | 第27-30页 |
·实验验证相同结温时用窄脉冲与恒流驱动峰值波长近似相等 | 第30-34页 |
·峰值波长偏移法大功率白光 LED 结温测试误差 | 第34-36页 |
·峰值波长偏移法结温重复性测试 | 第36-38页 |
·本章小结 | 第38-39页 |
3 大功率白光 LED 阵列结温峰值波长偏移法检测技术研究 | 第39-50页 |
·引言 | 第39页 |
·峰值波长偏移法用于大功率 LED 分布式阵列结温检测的研究 | 第39-44页 |
·光谱串扰仿真研究 | 第39-43页 |
·LED 分布式阵列的结温测试实验 | 第43-44页 |
·实用的 LED 分布式阵列结温测试方案 | 第44-45页 |
·光纤与 LED 中心法线所成角度变化对结温测试结果的影响研究 | 第45-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
4 小型化 LED 阵列结温光谱检测系统设计 | 第50-77页 |
·引言 | 第50页 |
·分光方式研究 | 第50-53页 |
·滤光片型 | 第50-51页 |
·色散型 | 第51页 |
·干涉调制型 | 第51-53页 |
·多路光获取方式的设计 | 第53-54页 |
·多路光谱采集系统方案设计 | 第54-59页 |
·系统性能指标要求 | 第54页 |
·系统分光光路 | 第54-55页 |
·平像场凹面光栅 | 第55-56页 |
·CCD 探测器 | 第56-57页 |
·电控机械快门 | 第57-59页 |
·多路光谱采集系统光机结构设计 | 第59-64页 |
·六合一分叉光纤设计 | 第59-60页 |
·狭缝/光阑座设计 | 第60-61页 |
·光栅调节机构设计 | 第61-62页 |
·光路参数设计 | 第62-63页 |
·光机结构设计 | 第63-64页 |
·多路光谱采集系统电子学设计 | 第64-71页 |
·CCD 驱动设计 | 第64-65页 |
·CCD 输出信号处理及采集 | 第65-67页 |
·CCD 图像信号缓存及传输 | 第67页 |
·硬件系统设计 | 第67-69页 |
·FPGA 程序流程及时序设计 | 第69-71页 |
·计算机软件设计 | 第71-75页 |
·多路光谱采集上位机软件设计 | 第71-73页 |
·光谱数据分析处理 | 第73-75页 |
·本章小结 | 第75-77页 |
5 系统校正及定标测试 | 第77-89页 |
·引言 | 第77页 |
·系统光路校正 | 第77-81页 |
·波长定标 | 第81-84页 |
·响应率定标 | 第84-86页 |
·波长准确度和波长重复性测试 | 第86-87页 |
·光谱分辨率测试 | 第87-88页 |
·本章小结 | 第88-89页 |
6 实验验证 | 第89-96页 |
·引言 | 第89页 |
·光谱重复性测试 | 第89-91页 |
·脉冲驱动下 LED 发光光谱的重复性测试 | 第89-90页 |
·对恒流驱动下 LED 发光光谱的重复性测试 | 第90-91页 |
·LED 结温测试 | 第91-95页 |
·LED 脉冲驱动下的发光光谱随环境温度变化的测试 | 第92-93页 |
·恒流驱动下的 LED 结温测试 | 第93-95页 |
·本章小结 | 第95-96页 |
7 总结与展望 | 第96-99页 |
·总结 | 第96-97页 |
·展望 | 第97-99页 |
参考文献 | 第99-105页 |
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第105页 |