| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·变频电机用漆包线耐电晕测试仪的研究背景 | 第7页 |
| ·漆包线耐电晕测试仪的研究现状 | 第7-8页 |
| ·本文的主要研究工作 | 第8-9页 |
| ·本文结构安排 | 第9-11页 |
| 第二章 PWM脉冲宽度调制理论分析 | 第11-21页 |
| ·PWM变频调速系统的基础理论 | 第11-14页 |
| ·PWM的定义和基本原理 | 第11-12页 |
| ·PWM的具体实现过程 | 第12-13页 |
| ·PWM控制技术的发展 | 第13-14页 |
| ·变频调速的基础知识 | 第14-16页 |
| ·变频调速的基本原理 | 第14页 |
| ·变频调速控制方式 | 第14-16页 |
| ·SPWM脉冲调制的理论分析 | 第16-19页 |
| ·SPWM的定义 | 第16-17页 |
| ·SPWM方法实现方案 | 第17-18页 |
| ·SPWM的具体实现要求 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-21页 |
| 第三章 H桥及绝缘栅双极晶体管（IGBT）的工作原理分析 | 第21-35页 |
| ·H桥的构成及工作原理 | 第21-25页 |
| ·H桥驱动电路 | 第21-22页 |
| ·H桥驱动电路的两种控制模式 | 第22-24页 |
| ·H桥的实现方法及优点 | 第24-25页 |
| ·绝缘栅双极晶体管(IGBT) | 第25-29页 |
| ·IGBT的基本组成结构 | 第25-26页 |
| ·IGBT的原理方法 | 第26-27页 |
| ·IGBT的工作特性 | 第27-28页 |
| ·IGBT的主要参数 | 第28-29页 |
| ·IGBT驱动电路的基本要求 | 第29页 |
| ·H桥电路中IGBT串联均压技术 | 第29-34页 |
| ·IGBT串联不均压的原因 | 第29-32页 |
| ·IGBT均压技术的研究 | 第32-33页 |
| ·阻容二极管有源均压电路 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 IGBT的H桥技术在耐电晕性能测试中的应用 | 第35-43页 |
| ·变频电机用漆包线的破坏机理 | 第35-36页 |
| ·漆包线耐电晕性能测试概述 | 第36-41页 |
| ·耐电晕测试介绍 | 第36-37页 |
| ·模块描述 | 第37-38页 |
| ·关键技术 | 第38-39页 |
| ·耐电晕模块中的保护电路 | 第39-40页 |
| ·试验结果 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第五章 耐电晕测试仪的软件设计 | 第43-53页 |
| ·开发工具和开发环境 | 第43-45页 |
| ·C++Builder2009简介 | 第43-44页 |
| ·Access数据库系统 | 第44-45页 |
| ·系统功能模块的设计与实现 | 第45-49页 |
| ·软件设计技术要点 | 第49-50页 |
| ·软件设计技术难点 | 第50页 |
| ·软件运行过程及结果 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第六章 结论与展望 | 第53-55页 |
| ·工作总结 | 第53-54页 |
| ·未来展望 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |