X射线荧光光谱法熔融制样测定硅酸盐岩石样品中的主、次成分
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-30页 |
| ·课题背景 | 第10-14页 |
| ·硅酸盐岩石简介 | 第10页 |
| ·硅酸盐岩石的分类及组成 | 第10-12页 |
| ·硅酸盐岩石分析的研究现状 | 第12-14页 |
| ·硅酸盐岩石分析的常用方法 | 第14-18页 |
| ·硅酸盐系统分析流程 | 第18-21页 |
| ·经典分析系统 | 第18-19页 |
| ·碱熔分析系统 | 第19-20页 |
| ·酸溶分析系统 | 第20-21页 |
| ·X 射线荧光光谱 | 第21-24页 |
| ·X 射线荧光光谱分析法基本原理 | 第21-22页 |
| ·X 射线荧光分析的应用领域 | 第22-23页 |
| ·X 射线荧光光谱分析法的优缺点 | 第23-24页 |
| ·X 射线荧光分析仪 | 第24-29页 |
| ·X 射线荧光分析仪的分类 | 第24-25页 |
| ·X 射线荧光分析仪的组成及工作原理 | 第25-29页 |
| ·论文主要研究内容及工作 | 第29页 |
| ·论文的研究目的和意义 | 第29-30页 |
| 第二章 实验部分 | 第30-39页 |
| ·仪器设备及主要试剂 | 第30页 |
| ·仪器设备 | 第30页 |
| ·主要试剂 | 第30页 |
| ·熔融制样 | 第30-31页 |
| ·标准系列的配制 | 第31-37页 |
| ·标准样片的制备 | 第31页 |
| ·基体效应和谱线重叠的校正 | 第31-32页 |
| ·校准曲线 | 第32-37页 |
| ·测量条件的选择 | 第37-39页 |
| 第三章 结果与讨论 | 第39-47页 |
| ·影响制样的因素 | 第39-45页 |
| ·样品制备方法 | 第39页 |
| ·熔剂种类的选择 | 第39-41页 |
| ·稀释比例的选择 | 第41-42页 |
| ·氧化剂的选择及用量 | 第42页 |
| ·脱模剂的选择及用量 | 第42-44页 |
| ·熔融时间的选择 | 第44页 |
| ·熔样温度的选择 | 第44-45页 |
| ·方法的准确度与精密度 | 第45-47页 |
| ·精密度 | 第45-46页 |
| ·准确度 | 第46页 |
| ·实验结果对照 | 第46-47页 |
| 第四章 结论 | 第47-48页 |
| 附表 | 第48-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 致谢 | 第54页 |
