TATB基PBX的纳米孔隙及其老化演变的正电子湮没寿命谱研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·高聚物粘结炸药简介 | 第7页 |
| ·炸药老化研究 | 第7-8页 |
| ·TATB基PBX | 第8-12页 |
| ·TATB及以之为基的PBX简介 | 第8-9页 |
| ·TATB基PBX的老化研究 | 第9页 |
| ·TATB基PBX老化的基本规律 | 第9-11页 |
| ·现存不足及发展方向 | 第11-12页 |
| ·PALS与其它表征方法的比较 | 第12-13页 |
| ·PALS的应用 | 第13-14页 |
| ·研究内容 | 第14-15页 |
| 第二章 正电子湮没寿命谱技术 | 第15-22页 |
| ·正电子湮没技术 | 第15页 |
| ·正电子湮没寿命理论 | 第15-17页 |
| ·寿命谱仪工作原理 | 第17-18页 |
| ·解谱分析 | 第18-19页 |
| ·解谱程序分析对比 | 第19-21页 |
| ·小结 | 第21-22页 |
| 第三章 炸药正电子湮没寿命谱测试技术研究 | 第22-42页 |
| ·寿命谱仪的参数调试 | 第22-24页 |
| ·调试方法 | 第22-23页 |
| ·参数设置 | 第23-24页 |
| ·状态检验 | 第24页 |
| ·解谱分析研究 | 第24-41页 |
| ·PASCual程序简介 | 第24-28页 |
| ·寿命谱的计算机随机模拟 | 第28-29页 |
| ·模拟金属寿命谱 | 第29-30页 |
| ·模拟炸药典型寿命谱 | 第30-37页 |
| ·模拟炸药实际寿命谱 | 第37-40页 |
| ·解谱分析方法总结 | 第40-41页 |
| ·小结 | 第41-42页 |
| 第四章 压制密度对PBX的纳米孔隙影响研究 | 第42-46页 |
| ·PBX的压制研究 | 第42页 |
| ·测量条件 | 第42-43页 |
| ·结果和分析 | 第43-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 第五章 PBX加速老化过程纳米孔隙演化研究 | 第46-56页 |
| ·概述 | 第46页 |
| ·测量条件 | 第46页 |
| ·结果和分析 | 第46-55页 |
| ·TATB纳米孔隙演化规律 | 第47-49页 |
| ·粘结剂纳米孔隙演化规律 | 第49-50页 |
| ·PBX纳米孔隙演化规律 | 第50-53页 |
| ·PBX及其组分规律对比分析 | 第53页 |
| ·误差原因分析 | 第53-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第六章 总结与展望 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 附录 | 第63页 |
