PDP电极通断检测原理及应用
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| ·引言 | 第7-8页 |
| ·本文的研究目的及组织结构 | 第8-9页 |
| ·本文的研究目的 | 第8页 |
| ·本文组织结构 | 第8-9页 |
| 第二章 PDP及其电极的制造工艺和缺陷分析 | 第9-21页 |
| ·PDP面板制作工艺 | 第9-16页 |
| ·PDP显示器概述 | 第9-10页 |
| ·PDP显示板结构 | 第10-14页 |
| ·AC-PDP的制造流程 | 第14页 |
| ·PDP电极制程 | 第14-16页 |
| ·PDP电极缺陷分析 | 第16-19页 |
| ·PDP电极缺陷种类 | 第16-17页 |
| ·电极缺陷产生的原因 | 第17-19页 |
| ·本章小结 | 第19-21页 |
| 第三章 PDP电极通断检测现状 | 第21-33页 |
| ·人眼目视检测 | 第21-22页 |
| ·探针接触式测试 | 第22-25页 |
| ·有夹具测试 | 第22-23页 |
| ·飞针测试 | 第23-24页 |
| ·导电胶测试 | 第24-25页 |
| ·计算机光学自动检测(AOI) | 第25-26页 |
| ·X射线检测 | 第26页 |
| ·涡流检测 | 第26-28页 |
| ·电容耦合非接触测试 | 第28-30页 |
| ·本章小结 | 第30-33页 |
| 第四章 PDP电极通断检测原理及其仿真分析 | 第33-45页 |
| ·电阻法测试原理 | 第33-34页 |
| ·两端式测试 | 第33页 |
| ·四端式测试 | 第33-34页 |
| ·电容法测试原理 | 第34-36页 |
| ·测试信号频率 | 第36-38页 |
| ·矩形导体电阻的频率特性 | 第36-37页 |
| ·两平行电极间的串扰 | 第37-38页 |
| ·对PDP电极通断的仿真 | 第38-43页 |
| ·Pspice简介 | 第38-39页 |
| ·电极正常情况下的电容耦合仿真 | 第39-41页 |
| ·电极短路情况下的电容耦合仿真 | 第41-42页 |
| ·结论 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-45页 |
| 第五章 PDP电极通断检测系统设计 | 第45-61页 |
| ·概述 | 第45页 |
| ·BUS电极的通断检测及缺陷电极定位 | 第45-49页 |
| ·BUS电极的断路检测及缺陷电极定位 | 第45-48页 |
| ·BUS电极的短路测试 | 第48-49页 |
| ·探针接触式通断检测系统设计要点 | 第49页 |
| ·ADD电极和ITO电极的通断检测及缺陷点定位 | 第49-57页 |
| ·电容耦合非接触探头设计 | 第50页 |
| ·ADD电极和ITO电极断路检测及缺陷电极定位 | 第50-55页 |
| ·ADD电极和ITO电极短路检测及缺陷电极定位 | 第55-57页 |
| ·通断检测系统的仿真 | 第57-58页 |
| ·BUS电极通断检测的仿真 | 第57-58页 |
| ·ADD电极和ITO电极通断检测的仿真 | 第58页 |
| ·本章小节 | 第58-61页 |
| 第六章 总结与展望 | 第61-63页 |
| ·工作总结 | 第61页 |
| ·展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
