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SOC的存储器IP嵌入技术研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-11页
第一章 绪论第11-17页
   ·存储器的研究和应用现状第11-13页
     ·存储器介绍第11页
     ·非易失性存储器的研究和应用现状第11-13页
   ·SOC中存储器的研究现状和发展第13-15页
     ·SOC系统中非易失性存储器第13-14页
     ·SOC系统中非易失性存储器的编程技术第14-15页
   ·论文研究意义第15-16页
     ·SOC系统中非易失性存储器的作用第15页
     ·SOC系统中存储技术的研究意义第15页
     ·本课题研究意义第15-16页
   ·本论文的主要工作第16-17页
第二章 存储器的物理结构与工作机理第17-28页
   ·存储器背景介绍第17-20页
   ·非易失存储器编程机制第20-23页
     ·FN隧道效应第20-22页
     ·CHE沟道热电子注入第22-23页
   ·非易失存储器擦除机制第23-25页
     ·FN隧道效应第23-25页
     ·紫外线照射第25页
   ·EEPROM和Flash的结构和工作机理第25-28页
     ·EEPROM的结构和工作机理第25-26页
     ·Flash的结构和工作机理第26-28页
第三章 存储器IP嵌入的总体设计第28-35页
   ·IP概述第28-29页
   ·基于IP核复用技术的SOC设计第29-30页
   ·SOC基本结构第30页
   ·IP的选择第30-32页
   ·SOC系统工作模式第32-33页
     ·正常模式第32-33页
     ·编程模式第33页
   ·存储器IP在SOC系统中嵌入的总体架构第33-35页
第四章 存储器IP嵌入的ICSP电路设计第35-52页
   ·ICSP电路的工作原理第35页
   ·ICSP电路的组成第35-48页
     ·命令字的设计和命令字译码电路第36-38页
     ·命令字串行移位寄存器电路第38-39页
     ·数据字串行移位寄存器电路第39-41页
     ·线性反馈移位计数器电路第41-44页
     ·编程地址计数器电路第44-45页
     ·内部编程定时器电路第45-46页
     ·代码保护电路第46-48页
   ·ICSP电路的读出流程仿真第48-49页
     ·读Identification存储区和Configuration存储区第48页
     ·读Flash程序存储区第48-49页
     ·读EEPROM用户数据存储区第49页
   ·ICSP电路的编程流程仿真第49-52页
     ·编程Identification存储区和Configuration存储区第49-50页
     ·编程Flash程序存储区第50-51页
     ·编程EEPROM用户数据存储区第51-52页
第五章 存储器IP嵌入的IAP电路设计第52-63页
   ·IAP电路的工作原理第52页
   ·IAP电路的组成和相关寄存器第52-54页
   ·IAP电路的读出流程第54-55页
   ·IAP电路的编程流程第55-56页
   ·IAP电路的编程流程仿真第56-58页
   ·IAP电路设计局限性第58-59页
   ·FLASH程序存储区的IAP电路设计展望第59-63页
     ·FLASH程序存储区的IAP电路设计难点何在第59-60页
     ·FLASH程序存储区的IAP电路设计解决方案第60-63页
第六章 存储器IP在SOC中的嵌入设计实现第63-76页
   ·存储器IP接口分析和时序分析第63-68页
     ·存储器IP接口分析第63-64页
     ·存储器IP时序分析第64-68页
   ·存储器IP的行为级Model验证第68-70页
   ·存储器IP嵌入设计实现第70-76页
     ·存储器IP嵌入的主要任务第70-71页
     ·存储器IP嵌入的基本思想第71-73页
     ·存储器IP嵌入的具体过程第73-76页
第七章 数模混合全电路仿真及版图设计第76-85页
   ·基于Spectre-Verilog的数模混合全电路仿真第76-79页
     ·Spectre-Verilog数模混合仿真环境第76-78页
     ·Spectre-Verilog数模混合仿真结果第78-79页
   ·版图设计和验证第79-85页
     ·版图设计第79-81页
     ·物理验证第81-83页
     ·已绘制部分模块版图第83-85页
第八章 结论第85-86页
致谢第86-87页
参考文献第87-89页
附录 存储器IP验证程序第89-96页
攻读硕士期间取得的成果第96页

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