微光像增强器荧光屏参数综合测试技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-10页 |
| ·本论文的研究背景 | 第7-8页 |
| ·本论文的主要工作 | 第8-10页 |
| 2 微光像增强器荧光屏参数的测试原理 | 第10-15页 |
| ·微光像增强器的种类、原理和特性 | 第10-11页 |
| ·微光像增强器的性能参数 | 第11-13页 |
| ·微光像增强器的荧光屏参数测试标准 | 第13-15页 |
| ·荧光屏发光效率 | 第13-14页 |
| ·荧光屏发光亮度和发光亮度的均匀性 | 第14页 |
| ·荧光屏的余辉 | 第14-15页 |
| 3 荧光屏参数测试系统设计 | 第15-30页 |
| ·总体结构 | 第15-16页 |
| ·机械结构装置及保障系统 | 第16-18页 |
| ·机械结构装置及特点 | 第16-17页 |
| ·保障系统 | 第17-18页 |
| ·电子枪系统设计 | 第18-20页 |
| ·电子枪结构 | 第18-19页 |
| ·电子枪电源 | 第19-20页 |
| ·电气控制子系统 | 第20-30页 |
| ·电气控制子系统的结构 | 第20-21页 |
| ·D/A卡 | 第21-23页 |
| ·信号处理模块和 A/D卡 | 第23-26页 |
| ·继电器卡和真空系统 | 第26-28页 |
| ·成像亮度计 | 第28页 |
| ·光通量测试仪 | 第28-30页 |
| 4 荧光屏参数测试系统软件设计和调试 | 第30-57页 |
| ·开发工具的选择 | 第30-31页 |
| ·测试系统的界面 | 第31-32页 |
| ·在 XP系统下对I/O口的访问 | 第32-34页 |
| ·Windows XP端口安全保护机制 | 第32-33页 |
| ·在 VC应用程序中加载 WinIo库 | 第33页 |
| ·I/O口在测试系统中的应用 | 第33-34页 |
| ·D/A卡的软件设计 | 第34-36页 |
| ·A/D卡的软件设计 | 第36-40页 |
| ·继电器卡的软件设计 | 第40-44页 |
| ·亮度计的软件设计 | 第44-51页 |
| ·余辉测量中的数据拟合 | 第51-53页 |
| ·测试系统与数据库的连接 | 第53-57页 |
| 5 结束语 | 第57-58页 |
| ·本文的工作总结 | 第57页 |
| ·有待进一步研究和解决的问题 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-60页 |
