高速CMOS A/D转换器的设计研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·研究背景 | 第10页 |
| ·国内外发展状况 | 第10-12页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第12-14页 |
| 第二章A/D转换器的系统结构及性能指标 | 第14-26页 |
| ·A/D模数转换器的基本原理 | 第14-15页 |
| ·高速CMOS数据转换器的特性参数 | 第15-18页 |
| ·静态特性 | 第15-17页 |
| ·动态特性 | 第17-18页 |
| ·高速CMOS A/D转换器的主要结构 | 第18-24页 |
| ·闪烁式结构A/D转换器 | 第18-20页 |
| ·两步式结构A/D转换器 | 第20-21页 |
| ·内插式A/D转换器 | 第21-22页 |
| ·折叠式A/D转换器 | 第22-23页 |
| ·流水线式A/D转换器 | 第23-24页 |
| ·流水线A/D转换器的设计 | 第24-25页 |
| ·结构的选择 | 第24-25页 |
| ·1.5 位/级的流水线模数转化器的实现 | 第25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 采样保持电路的研究 | 第26-36页 |
| ·开关电容技术和开关电流技术 | 第27-28页 |
| ·Nyquist采样定理 | 第28页 |
| ·采样保持电路的结构 | 第28-29页 |
| ·开环结构 | 第28页 |
| ·闭环结构 | 第28-29页 |
| ·MOS采样开关的非理想因素 | 第29-33页 |
| ·MOS 采样开关的工作原理 | 第29-30页 |
| ·沟道电荷注入效应 | 第30-32页 |
| ·时钟馈通效应 | 第32页 |
| ·KT/C噪声 | 第32-33页 |
| ·消除沟道电荷注入、时钟馈通效应的办法 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 第四章 采样保持电路的设计和仿真 | 第36-50页 |
| ·采样电容的选择 | 第36-37页 |
| ·采样开关的设计和优化 | 第37-38页 |
| ·采保运放的设计 | 第38-44页 |
| ·电路拓扑结构的选择 | 第38-40页 |
| ·增益增强型折叠共源共栅放大器的设计 | 第40-42页 |
| ·共模反馈电路的设计 | 第42-43页 |
| ·运放的仿真结果 | 第43-44页 |
| ·采样保持电路设计 | 第44-47页 |
| ·底极板(bottom plate)采样技术 | 第44-45页 |
| ·全差分开关电容采样保持电路的设计 | 第45-47页 |
| ·仿真结果与分析 | 第47页 |
| ·余量增益电路的设计 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-50页 |
| 第五章 其它关键电路的设计及版图的考虑 | 第50-58页 |
| ·动态比较器电路设计 | 第50-52页 |
| ·时钟发生器电路设计 | 第52-53页 |
| ·数字校正电路设计 | 第53-54页 |
| ·版图设计的考虑 | 第54-57页 |
| ·整体版图设计原则 | 第55页 |
| ·干扰和匹配问题的解决 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第六章 结束语 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 研究成果 | 第64页 |
