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数字电路BIST设计中的优化技术

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-8页
目录第8-10页
图表清单第10-13页
符号说明(缩略词)第13-14页
1 绪论第14-21页
   ·课题来源第14页
   ·研究背景及意义第14-17页
   ·国内外研究现状第17-19页
   ·论文研究内容及拟解决的关键问题第19-20页
   ·章节安排第20-21页
2 数字电路的内建自测试(BIST)设计概要第21-29页
   ·逻辑电路 BIST 结构设计第21-26页
     ·测试矢量生成第21页
     ·响应压缩分析第21-24页
     ·LFSR 与被测电路的连接方式第24-26页
   ·存储器 BIST 结构设计第26-27页
   ·BIST 的层次化设计第27-28页
   ·本章小结第28-29页
3 存储器 BIST 设计中的优化技术第29-62页
   ·SRAM 故障模型和测试算法第29-36页
     ·故障模型第29-30页
     ·面向“位”的 March 测试算法第30-32页
     ·面向“字”的 March 测试算法第32-36页
   ·基于 March 元素完全编码的 SRAM BIST 控制器设计第36-43页
     ·SRAM BIST 控制器第36-37页
     ·可编程存储器 BIST 控制器的时序第37-39页
     ·测试指令格式第39-43页
   ·SRAM BIST IP 核模板设计及功能验证第43-49页
     ·IP 核模板设计第43-47页
     ·IP 核模板功能验证第47-49页
   ·SRAM BIST IP 核自动生成系统第49-61页
     ·自动生成系统框架结构第49-51页
     ·自动生成系统的验证第51-61页
   ·本章小结第61-62页
4 逻辑 BIST 设计中的优化技术第62-91页
   ·LFSR-CA 加权伪随机测试生成第62-71页
     ·伪随机测试矢量的冗余性第62-64页
     ·伪随机测试矢量的产生和加权第64-67页
     ·基于 LFSR-CA 结构的加权伪随机测试矢量优化第67-71页
   ·基于遗传算法的低功耗 BIST 设计第71-77页
     ·遗传算法原理第71-73页
     ·功耗模型分析第73-75页
     ·基于遗传算法的低功耗 BIST 测试生成第75-77页
   ·测试矢量与测试功耗协同优化的 BIST 设计第77-80页
   ·测试矢量与测试功耗协同优化 BIST 设计的验证及性能分析第80-90页
     ·LFSR-CA 加权伪随机测试生成验证第80-85页
     ·基于遗传算法的低功耗 BIST 测试生成验证第85-89页
     ·测试矢量与测试功耗协同优化 BIST 设计的测试生成验证第89-90页
   ·本章小结第90-91页
5 BIST 优化设计的硬件验证系统第91-102页
   ·BIST IP 核设计第91-94页
     ·逻辑 BIST IP 核模板设计第91页
     ·重构的实现方式第91-92页
     ·逻辑 BIST 自动生成系统软件设计第92-94页
   ·BIST IP 核与 JTAG 的接口设计第94-96页
   ·BIST 优化设计的硬件验证平台第96-98页
   ·MBIST 和 LBIST 优化设计的硬件验证结果第98-101页
     ·测试环境第98页
     ·测试参数第98页
     ·测试操作步骤第98-99页
     ·总体测试流程第99页
     ·MBIST 与 LBIST 硬件验证结果第99-101页
     ·测试结论第101页
   ·本章小结第101-102页
6 结论第102-104页
   ·研究结论及创新性成果第102-103页
   ·存在的不足以及进一步研究的方向第103-104页
参考文献第104-111页
附录 1 SRAM BIST IP 核模板的 Verilog 语言描述第111-115页
附录 2 低功耗 BIST 优化结构的遗传算法原代码第115-124页
附录 3 加权 CA 生成的部分代码第124-127页
附录 4 BIST DEMO 板设计资料第127-130页
附录 5 LBIST/MBIST BSDL文件第130-136页
致谢第136-137页
攻读学位期间发表的学术论文目录第137页

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