| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·中子照相技术发展概况 | 第8-9页 |
| ·中子照相的特点和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外射线相衬成像技术研究现状 | 第10-12页 |
| ·X射线相衬成像技术发展现状 | 第10-11页 |
| ·中子相衬成像技术发展现状 | 第11-12页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第12-13页 |
| 第二章 中子照相理论及技术 | 第13-23页 |
| ·中子照相的基本原理 | 第13页 |
| ·各种图像探测和显示方法及其特点 | 第13-14页 |
| ·“转换屏-X底片”成像法 | 第13-14页 |
| ·径迹蚀刻法 | 第14页 |
| ·中子数字照相法 | 第14页 |
| ·中子照相装置 | 第14-15页 |
| ·不同能量中子照相的特点 | 第15-16页 |
| ·热中子照相 | 第16页 |
| ·冷中子照相 | 第16页 |
| ·超热中子照相 | 第16页 |
| ·快中子照相 | 第16页 |
| ·准直器对中子照相质量的影响 | 第16-18页 |
| ·准直系统的构成和类型 | 第17页 |
| ·准直器与中子照相系统分辨率的关系 | 第17-18页 |
| ·准直器与中子照相系统反差灵敏度的关系 | 第18页 |
| ·中子照相技术的应用 | 第18-20页 |
| ·300~#反应堆中子照相装置 | 第20-23页 |
| ·装置结构及主要技术水平 | 第20-21页 |
| ·成像系统构成 | 第21-23页 |
| 第三章 中子相衬成像 | 第23-37页 |
| ·相衬成像的概念提出 | 第23-25页 |
| ·相衬成像的基本理论 | 第24-25页 |
| ·光源相干性的定义 | 第25页 |
| ·相衬成像的实现方法 | 第25-31页 |
| ·干涉法相衬成像 | 第26页 |
| ·衍射相衬成像法 | 第26-27页 |
| ·同轴轮廓法相衬成像 | 第27-31页 |
| ·多色热中子同轴轮廓法相衬成像的实验条件 | 第31-37页 |
| ·光源相干性要求 | 第31-32页 |
| ·探测系统探测效率限制 | 第32-36页 |
| ·成像距离的选择 | 第36-37页 |
| 第四章 SPRR-300上的中子照相装置热中子相衬成像实验研究 | 第37-53页 |
| ·SPRR-300中子照相装置进行热中子相衬成像实验方案 | 第37页 |
| ·实验结果分析中要用到的数字图像处理技术 | 第37-40页 |
| ·图像帧积分技术 | 第38-39页 |
| ·背景消除 | 第39页 |
| ·灰度拉伸 | 第39页 |
| ·中值滤波 | 第39-40页 |
| ·测量本装置最远探测距离的实验 | 第40-42页 |
| ·物源距离对成像结果的影响 | 第42-44页 |
| ·物屏距离对成像结果的影响 | 第44-48页 |
| ·点源尺寸对成像结果的影响 | 第48页 |
| ·相衬成像基础实验 | 第48-51页 |
| ·小结 | 第51-53页 |
| 第五章 单色热中子相衬成像仿真计算结果及分析 | 第53-60页 |
| ·仿真计算方法 | 第53-54页 |
| ·仿真计算结果和分析 | 第54-58页 |
| ·物屏距离改变对成像结果的影响 | 第54-56页 |
| ·点源尺寸改变对相衬成像效果的影响 | 第56-57页 |
| ·物源距离的改变对相衬成像结果的影响 | 第57-58页 |
| ·样品尺寸变化对相衬成像结果的影响 | 第58页 |
| ·小结 | 第58-60页 |
| 第六章 讨论和展望 | 第60-64页 |
| ·主要存在的问题及其可能解决方案 | 第60-62页 |
| ·热中子相衬成像条件的问题 | 第60-61页 |
| ·其他因素对成像结果的影响及改进措施 | 第61页 |
| ·仿真计算还需完善 | 第61-62页 |
| ·XXXX上进行热中子相衬成像技术的研究和展望 | 第62页 |
| ·XXXX中子相衬成像实验方案 | 第62-64页 |
| 第七章 结束语 | 第64-65页 |
| ·本论文的主要研究工作和结论 | 第64页 |
| ·总结 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 附录 | 第68-69页 |
| 附录一 关于3-30式的推导过程 | 第68-69页 |
| 附录二 文章发表情况及参加学术活动情况 | 第69页 |