| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-28页 |
| ·前言 | 第9-11页 |
| ·文献综述 | 第11-26页 |
| ·压电性和压电方程组 | 第11-13页 |
| ·压电方程组及压电材料的主要机电性能参数 | 第13-18页 |
| ·压电陶瓷的应用 | 第18-20页 |
| ·大功率压电陶瓷体系 | 第20-25页 |
| ·复合钙钛矿氧化物与多元系压电陶瓷 | 第25-26页 |
| ·课题的提出 | 第26-28页 |
| 第二章 实验过程及测试 | 第28-35页 |
| ·原料及设备 | 第28-29页 |
| ·实验准备 | 第29页 |
| ·工艺选取 | 第29-30页 |
| ·性能测试及仪器装置 | 第30-35页 |
| 第三章 PMSZT压电陶瓷准同型相界附近的性能研究 | 第35-63页 |
| ·组成研究 | 第36-54页 |
| ·物相分析 | 第36-39页 |
| ·微观结构 | 第39-41页 |
| ·机电性能 | 第41-46页 |
| ·温度稳定性 | 第46-54页 |
| ·烧结工艺 | 第54-60页 |
| ·物相分析 | 第54-55页 |
| ·显微结构 | 第55-56页 |
| ·机电性能 | 第56-59页 |
| ·温度稳定性 | 第59-60页 |
| ·烧银工艺 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 第四章 PMSZT压电陶瓷掺杂改性研究 | 第63-88页 |
| ·物相分析 | 第63-67页 |
| ·显微结构 | 第67-70页 |
| ·机电性能 | 第70-76页 |
| ·稳定性 | 第76-87页 |
| ·介电温度稳定性 | 第76-79页 |
| ·频率温度稳定性 | 第79-87页 |
| ·本章小结 | 第87-88页 |
| 第五章 PMSZT压电陶瓷的低温烧结研究 | 第88-97页 |
| ·物相分析 | 第88-89页 |
| ·显微结构 | 第89-91页 |
| ·机电性能 | 第91-93页 |
| ·温度稳定性 | 第93-96页 |
| ·本章小结 | 第96-97页 |
| 第六章 PMSZT基压电陶瓷的时间稳定性的研究 | 第97-106页 |
| ·不同锆含量PMSZT样品的老化行为 | 第97-100页 |
| ·不同NiW掺杂PMSxPNW–(0.95-x)PZT样品的老化行为 | 第100-102页 |
| ·不同温度下NiW掺杂样品的压电、介电老化行为 | 第102-104页 |
| ·热处理对老化性能的影响 | 第104-105页 |
| ·本章小结 | 第105-106页 |
| 第七章 结论 | 第106-108页 |
| 创新性 | 第108-109页 |
| 参考文献 | 第109-118页 |
| 发表论文及科研情况 | 第118-120页 |
| 致谢 | 第120页 |